Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10216
Title: Особенности выделения частиц вторичной фазы с ГПУ-решеткой в системе Co-Ni-Nb
Authors: Ерболатулы, Д.
Скаков, М.К.
Алонцева, Д.Л.
Ерболатова, Г.У.
Pohrebniak, Oleksandr Dmytrovych 
Keywords: електронна мікроскопія
электронная микроскопия
electron microscopy
Issue Year: 2005
Publisher: Изд-во СумГУ
Citation: Особенности выделения частиц вторичной фазы с ГПУ-решеткой в системе Co-Ni-Nb [Текст] / Д. Ерболатулы, М.К. Скаков, А.Д. Погребняк [и др.] // Вісник Сумського державного університету. Серія Фізика, математика, механіка. — 2005. — № 8(80). — С. 87-98.
Abstract: В результате исследований, проведенных с помощью XRD - TEM анализов растровой электронной микроскопии (SEM), рентгенофлуорисцентного анализа, измерения микротвердости и кривых отжига показано, что в образцах сплава 67КН35, прокатанного с деформацией до 90% выделяется вторичная фаза в интервале 323-1173К. Частицы фазы сферической формы выделяются на границах зерен матрицы и имеют ГПУ решетку. Выявлен характер взаимосвязи объемной доли, выделяющейся фазы, среднего размера зерен матрицы, микротвердости и температуры отжига. Обнаружена упрочняющая роль ГПУ фазы при комнатных температурах При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10216
As a result of XRD and TEM analyses, scanning electron microscopy (SEM), X-ray fluorescence analysis, measurements of microhardness and annealing curves, it was shown that a secondary phase was formed in samples of 67N35 alloy, which were rolled with 90% deformation level within 323 to 1173K temperature range. Spherical particles were formed at matrix grain boundaries and had face-centered-close-packed lattice. Relation of bulk fraction of the produced phase to average matrix grain dimension, microhardness and annealing temperature was found. It was also found that the face-centered-close-packed lattice played a role of hardening factor under room temperatures. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10216
URI: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10216
Type: Article
Appears in Collections:Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views
Other91
China10
Germany8
Spain1
France4
United Kingdom8
Iran1
Kazakhstan3
Netherlands2
Russia21
Turkey7
Ukraine15
United States26
Downloads
Other299
China2
Germany1
France1
Kazakhstan10
Russia13
Ukraine3
United States2


Files in This Item:
File Description SizeFormatDownloads 
10.pdf588.67 kBAdobe PDF331Download


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.