Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46102
Title: Structural and microstructural properties of CdxZn1-xTe films deposited by Close Spaced Sublimation
Authors: Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych 
Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych 
Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych
Hrynenko, Vitalii Viktorovych
Fochuk, P.M.
Keywords: елементний склад Cd1-xZnxTe
элементный состав Cd1-xZnxTe
elemental composition Cd1-xZnxTe
мікронапруження
микронапряжения
microstresses
текстура
texture
параметри кристалічної гратки
параметры кристаллической решетки
lattice parameter
розміри областей когерентного розсіювання
размеры областей когерентного рассеивания
coherent scattering domains size
Issue Year: 2016
Publisher: Journal "Functional Materials"
Citation: Structural and microstructural properties of CdxZn1-xTe films deposited by Close Spaced Sublimation [Text] / Y.V. Znamenshchykov, V.V. Kosyak, A.S. Opanasyuk and etc. // Functional materials. - 2016. - V. 23, No. 1 - P. 32–39.
Abstract: В роботі були досліджені структурні властивості (мікронапруження, текстура, період гратки, розмір областей когерентного розсіювання) та хімічний склад плівок Cd1-xZnxTe (CZT) зі змінною концентрацією цинку. Шари отримані методом термічного випаровування в квазізамкненому об’ємі на підкладках зі скла, покритого молібденом. Властивості плівок були досліджені за допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, енергодисперсної спектроскопії, скануючої електронної мікроскопії. Концентрація цинку в шарах CdZnTe була визначена за результатами EDS та за значеннями параметра кристалічної гратки матеріалу, відповідно до літературних даних. Було встановлено, що шари CZT мали концентрації цинку: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.
В работе были исследованы структурные свойства (микронапряжения, текстура, период решетки, размер областей когерентного рассеивания) и химический состав пленок Cd1-xZnxTe (CZT) с переменной концентрацией цинка. Слои получены методом термического испарения в квазизамкнутом объеме на подложках со стекла, покрытого молибденом. Свойства пленок были исследованы с помощью методов рентгеновской дифрактометрии, енергодисперсной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии. Концентрация цинка в слоях CdZnTe была определена по результатам EDS и по значению параметра кристаллической решетки материала, в соответствии с литературными данными. Было установлено, что слои CZT имели концентрации цинка: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.
In this work the structural properties (microstresses, texture, lattice parameter, coherent scattering domains size) and chemical composition of Cd1-xZnxTe (CZT) films with variable zinc concentration were studied. Films were deposited on molybdenum coated glass substrates by close spaced vacuum sublimation method (CSVS). Properties of samples were investigated by XRD (X-ray diffraction), EDS (energy dispersive spectroscopy), SEM (scanning electron microscopy). Zinc concentration in CdZnTe layers was determined by EDS and from the lattice parameter, according to the literature data. Namely, it was determined that CZT films had following Zn concentrations: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.
URI: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46102
Type: Article
Appears in Collections:Наукові видання (ЕлІТ)

Views
Other17
Canada1
China6
Germany3
Finland1
France2
Italy1
Latvia1
Russia5
Ukraine6
United States7
South Africa1
Downloads
Other4
China4
Germany3
France1
Latvia1
Ukraine2
United States6


Files in This Item:
File Description SizeFormatDownloads 
Znamenshchykov.pdf2.35 MBAdobe PDF21Download


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.