Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762
Title: Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів
Authors: Danylchenko, Serhii Mykolaiovych
Kuznetsov, Volodymyr Mykolaiovych
Protsenko, Ivan Yukhymovych 
Keywords: кристалічна гратка
решітки Браве
рентгенівське випромінювання
кінематична теорія
фазовий аналіз
crystalline lattice
brave lattice
X-ray radiation
kinematic theory
phase analysis
кристаллическая решетка
решетки Браве
рентгеновское излучение
кинематическая теория
фазовый анализ
Issue Year: 2019
Publisher: Сумський державний університет
Citation: Данильченко, С.М. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів [Електронний ресурс]: навч. посіб. / С.М. Данильченко, В.М. Кузнецов, І.Ю. Проценко. - Електронне вид. каф. Електроніки, загальної та прикладної фізики. - Суми: СумДУ, 2019. - 135 с.
Abstract: У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції. Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних спеціальностей університетів, освітні програми яких пов’язані з вивченням властивостей матеріалів мікроелектроніки.
URI: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762
Type: Schoolbook
Appears in Collections:Навчальні та наукові видання видавництва СумДУ

Views
Other17
Downloads
Other29


Files in This Item:
File Description SizeFormatDownloads 
Danylchenko_materialy.pdf2.37 MBAdobe PDF29Download


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.