Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10449
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Влияние высокодозной имплантации ионов N+ на структуру, морфологию и механические свойства Ti и TiNi |
Authors |
Левинтант, Н.
Свириденко, Н.В. Pohrebniak, Oleksandr Dmytrovych ![]() |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-9218-6492 |
Keywords | |
Type | Article |
Date of Issue | 2005 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10449 |
Publisher | Издательство СумГУ |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Левинтант, Н. Влияние высокодозной имплантации ионов N+ на структуру, морфологию и механические свойства Ti и TiNi [Текст] / Н. Левинтант, Н.В. Свириденко, А.Д. Погребняк // Вісник Сумського державного університету. Серія Фізика, математика, механіка. - 2005. - № 4(76). - С. 93-101. |
Abstract |
В работе представлены результаты исследований, полученных с помощью SEM с микроанализом (EDS), упругого резонанса ядерных реакций, нанотвердости, износа при трении и оже-электронной спектроскопии. На имплантированных азотом образцах Ti и TiNi от 3х10^17 (см)^2 до 1х10^18(см)^2. Обнаружено увеличение нанотвердости почти в 3 раза в TiNi на глубине около (50-70) нм, где наблюдается максимум концентрации N+ при глубине имплантации свыше 200 нм. Обнаружено уменьшение износа при трении у TiNi и Ti. Морфология структуры поверхности TiNi и Ti сильно меняется после облучения ионами N+ дозой 1х10^18 (см)^2.
При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/10449 |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views

1

10

304

20686

1

1

193022

1

1

18

1

14

4222303

2002579

33986319

4222301

1
Downloads

1

1

305

193023

1

1

1

1

1

1

2

37

1

23325071

1

44647564

4222302
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
594.doc | 1.22 MB | Microsoft Word | 72388314 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.