Численный анализ экранирующих свойств дифракционной решетки при возбуждении электронным потоком излучения на метало-диэлектрических структурах

Воробьев, Геннадий Савельевич; Цвик, А.І.; Цвык, А.И.; Tsvyk, A.I.; Пушкарев, Константин Алексеевич

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/16430

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Численный анализ экранирующих свойств дифракционной решетки при возбуждении электронным потоком излучения на метало-диэлектрических структурах
Authors	Vorobiov, Hennadii Saveliiovych Цвик, А.І. Цвык, А.И. Tsvyk, A.I. Pushkarov, Kostiantyn Oleksiiovych
ORCID
Keywords	энергия дифракционного излучения электронный поток
Type	Article
Date of Issue	1997
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/16430
Publisher	МАИК "НАУКА"
License
Citation	Воробьев, Г.С. Численный анализ экранирующих свойств дифракционной решетки при возбуждении электронным потоком излучения на метало-диэлектрических структурах [Текст] / Г.С. Воробьев, К.А. Пушкарев, А.И. Цвык // Радиотехника и электроника. — 1997. — том 42. — №6. — с. 738-740
Abstract	В работе проведен численный анализ плотности энергии дифракционного излучения, возбуждаемого при движении электронного потока вдоль периодической метало-диэлектрической структуры. В отличие от ранее полученного длинноволнового приближения, данный подход позволяет изучить экранирующие свойства дифракционной решетки в более широком интервале изменения параметров исследуемой системы. Результаты численного анализа сравниваются с результатами экспериментального моделирования. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/16430
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)