Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/21040
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Розробка рентгенооптичних схем для аналізу складу за спектрами флуоресценції та комптонівського розсіяння |
Authors |
Батурін, Олексій Анатолійович
Батурин, Алексей Анатолиевич Baturin, Oleksii Anatoliiovych |
ORCID | |
Keywords |
рентгенофлуоресцентний аналіз рентгенофлуоресцентный анализ X-ray fluorescent analysis рентгенооптичні схеми рентгенооптические схемы X-ray optic schemes |
Type | Synopsis |
Date of Issue | 2010 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/21040 |
Publisher | Вид-во СумДУ |
License | |
Citation | Батурін, О.А. Розробка рентгенооптичних схем для аналізу складу за спектрами флуоресценції та комптонівського розсіяння [Текст]: автореферат... канд. фіз.-мат. наук, спец.: 01.04.01 - фізика приладів, елем. і систем / О.А. Батурін. - Суми: СумДУ, 2010. - 17 с. |
Abstract |
Дисертація присвячена проблемі розширення аналітичних можливостей рентгеноспектральної апаратури. Створені модифіковані вузли апаратури та механізмів, зокрема, модернізована схема Брегга-Соллера, яка дозволяє провадити вимірювання хімічних елементів від В(№5) до U(№92). Виведено критерій вибору матеріалів для створення кристалів-аналізаторів. Вперше досліджено досконалість структури та спектральні характеристики епітаксіальних шарів фулериту С60. Для прецизійного вимірювання ефекту Комптона розроблена кристал-дифракційна схема з флуоресцентним анодом. Виявлене монотонне зміщення на 70 еВ піку непружного розсіяння для сталі при підвищенні вмісту вуглецю від 0,03 до 1,10 % мас, що пояснюється ефектом Комптона на зв’язаних електронах. Розроблені рентгенооптичні схеми, елементи, що диспергують, та методики аналізу застосовані у роботі вітчизняного рентгенофлуоресцентного спектрометра «СПРУТ».
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/21040 Диссертация посвящена проблеме расширения аналитических возможностей рентгеноспектральной аппаратуры. В процессе исследования были определены теоретические возможности улучшения основных характеристик узлов и механизмов рентгеноспектральной аппаратуры. Проведены исследования по использованию новых материалов в различных блоках спектрометра, для улучшения его аналитических возможностей. Созданы модифицированные узлы аппаратуры и механизмов. Разработаны методики для решения различных научно-технических задач: определение углерода в сталях на портативной рентгеноспектральной аппаратуре; экспресс-методика бесконтактного определения величины теплотворной способности топлива; измерения порошковых проб железной руды без пробоподготовки. Создана экспериментальная установка, позволяющая проводить измерения химических элементов от В(№5) до U(№92). Для спектрометра, работающего по модернизированной схеме Брэгга-Соллера, в качестве диспергирующих элементов были выбраны: - графит для диапазона длин волн 0,035-0,40 нм; - для диапазона 0,40 - 1,2 нм короткопериодные рентгеновские зеркала Мо-В4С и эпитаксиальные пленки фуллерита С60; - для диапазона 1,2 - 6,9 нм рентгеновские зеркала Со-С. На основе кинематической теории рассеяния рентгеновских лучей выведен критерий выбора материалов для создания кристаллов-анализаторов с высоким коэффициентом отражения. Впервые исследовано совершенство структуры и спектральные характеристики эпитаксиальных слоев фуллерита С60.Показано, что в диапазоне длин волн 0,40 - 0,72 нм по спектральному разрешению и коэффициенту отражения фуллерит превосходит традиционный RbAP; возможно двукратное повышение коэффициента отражения фуллерита при удалении 2 ат. % кислорода из октаэдрических междоузлий. Для новых короткопериодных рентгеновских зеркал Mo-В4C в диапазоне длин волн 0,40 - 1,19 нм установлено, что 12 - 15 кратное снижение коэффициента отражения при уменьшении их периода d от 2,92 до 1,32 нм обусловлено структурной причиной: шероховатостью межслоевых границ, достигающей 0,3 нм. Найден узкий диапазон значений d =2,40 - 2,95 нм, в котором для аналитических линий элементов третьего периода таблицы Менделеева с помощью зеркал Mo-В4C удается получить трехкратный выигрыш в интенсивности по сравнению с RbAP. Доказана возможность измерения содержания углерода в низколегированных сталях на портативном рентгенофлуоресцентном спектрометре при оптимизации рентгенооптической схемы по фоновому сигналу. В диапазоне массовых долей 0,1 - 1,5 % абсолютная погрешность измерения составляет 0,077 %мас. Для прецизионного измерения эффекта Комптона разработана кристалл-дифракционная схема с флуоресцентным анодом, обеспечивающая сохранение 6 - 9 % интенсивности линий и 3 - 10 кратный выигрыш в их контрастности. Реализованы измерения содержания легких элементов методом калибровки по соотношению пиков когерентного и некогерентного рассеяния. Выявлено монотонное смещение на 70 эВ пика неупругого рассеяния для стали при увеличении содержания углерода от 0,03 до 1,1% мас, что объясняется эффектом Комптона на связанных электронах. Разработанные рентгенооптические схемы, диспергирующие элементы и методики анализа применены в работе отечественного рентгенофлуоресцентного спектрометра «СПРУТ». При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/21040 The thesis is devoted to the problem of expansion of X-ray spectral apparatus analytical abilities. The modified units of the apparatus and mechanisms were made, in particular, modified Bragg-Soller scheme which allows measuring chemical elements from В (No5) to U (No92). The selection criterion for crystals-analyzers material was derived. For the first time, the structure perfection and spectral characteristics of С60 fullerite epitaxial layers were studied. For precision measurements of Compton effect, the crystal-diffraction scheme with fluorescent anode was developed. The inelastic scattering peak monotonic shift up to 70 eV was revealed in steels with carbon content increase from 0.03 to 1.10 % mass, that was explained by Compton effect on the bound electrons. The developed X-ray schemes, dispersive elements, and analysis techniques were applied in the domestic X-ray fluorescent spectrometer “SPRUT”. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/21040 |
Appears in Collections: |
Автореферати |
Views
Australia
1
Brazil
1
Canada
1
China
3
France
1
Germany
426
Greece
36780
Iran
1
Ireland
211447
Italy
2
Lithuania
1
Moldova
1
Netherlands
9199
Poland
1
Russia
27
Singapore
178285813
South Korea
1
Turkey
6
Ukraine
39732965
United Kingdom
2240210
United States
125736195
Unknown Country
54
Downloads
China
6
EU
1
Germany
427
Indonesia
1
Lithuania
1
Moldova
1
Netherlands
1
Russia
1
Ukraine
125736197
United Kingdom
1
United States
346253138
Unknown Country
417
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Aref.pdf | 297.87 kB | Adobe PDF | 471990192 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.