Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Formation factors of stable nanocrystalline thin films |
Authors |
Панчеха, Петро Олексійович
Панчеха, Петр Алексеевич Panchekha, P. O. Basov, Andrii Hennadiiovych Басов, Андрей Геннадьевич |
ORCID | |
Keywords | |
Type | Article |
Date of Issue | 2003 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 |
Publisher | Institute for Single Crystals |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Formation factors of stable nanocrystalline thin films / P.A.Panchekha, A.G.Basov // Functional Materials. — 2003. — Vol. 10, № 3. — Pp. 395-401. |
Abstract |
Анализируются экспериментальные данные о концентрации и температурной стабильности межзеренных границ и дефектов упаковки в тонких пленках металлов с некристаллической структурой. Сделан вывод, что образование этих дефектов в процессе конденсации уменьшает свободную энергию тонких пленок.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ШІ) |
Views

1

10

1

1

3

147038

1

768077

1

33377

1

1

768079

1

1

14

1

768068

1942413992

1

116458124

1

46698

1

1702934202

-1230512739

-217300402

256993763
Downloads

1

2

1

2

784

1

6

1

307346812

17075776

-1230512740

238

1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
FM103-31.pdf | 1.72 MB | Adobe PDF | -906089115 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.