Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22936
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Ellipsometric investigations of influence of parameters of heterogeneous layers on their optical properties |
Authors |
Shvets, Uliana Stanislavivna
Karpusha, Vasyl Danylovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-1518-4047 http://orcid.org/0009-0004-2460-2273 |
Keywords | |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2004 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22936 |
Publisher | Видавництво СумДУ |
License | |
Citation | Shvets, U.S. Ellipsometric investigations of influence of parameters of heterogeneous layers on their optical properties [Текст] / U.S. Shvets, V.D. Karpusha // Матеріали науково-теоретичної конференції викладачів, аспірантів, співробітників та студентів гуманітарного факультету : 14-28 квітня 2004 р. - Суми : СумДУ, 2004. - С. 77-78. |
Abstract | |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
China
8321610
Côte d’Ivoire
1
France
153517
Germany
1477052225
Greece
1
Iran
1
Ireland
1043253338
Japan
1
Lithuania
1
Netherlands
153519
Russia
20
Singapore
-84598417
Spain
1
Sweden
1
Turkey
2
Ukraine
1207659155
United Kingdom
88880
United States
-1935008992
Unknown Country
1207659154
Vietnam
29362069
Downloads
China
4
Finland
1
France
2
Germany
341
Hong Kong SAR China
1
Ireland
1
Lithuania
1
Ukraine
153606
United Kingdom
1
United States
1477052227
Unknown Country
189
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
34.pdf | 400.95 kB | Adobe PDF | 1477206375 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.