Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2333

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия
Authors	Ihnatenko, Viktoriia Mykhailivna Kshniakina, Svitlana Ivanivna
ORCID
Keywords	тонкие окисные пленки тонкі окисні плівки oxydic thin-films методы эллипсометрии методи еліпсометрії methods of ellipsometry
Type	Article
Date of Issue	1994
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2333
Publisher	Издательство СумГУ
License	Copyright not evaluated
Citation	Игнатенко, В.М. Неразрушающие методы исследования оптических свойств тонких окисных пленок ванадия [Текст] / В.М. Игнатенко, С.И. Кшнякина // Вісник Сумського державного університету. — 1994. — №2. — С. 14-17.
Abstract
Appears in Collections:	Вісник Сумського державного університету (1994-1999)