Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/26553
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Влияние параметров ВЧ – разряда на сверхтвердость, стехиометрию наноструктурных покрытий Zr-Ti-Si-N |
Authors |
Ткаченко, Роман Юрійович
Ткаченко, Роман Юрьевич Tkachenko, Roman Yuriiovych |
ORCID | |
Keywords |
ВЧ-разряд ВЧ-розряд RF discharge стехиометрия стехіометрія stoichiometry |
Type | Competitive_scientific_work |
Date of Issue | 2012 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/26553 |
Publisher | |
License | |
Citation | |
Abstract | |
Appears in Collections: |
Наукові роботи студентів, магістрів, аспірантів (ЕлІТ) |
Views

1

2

76825223

1417904

4

5671617

1

1

2835809

5

1

1

6781

12

34

1448119339

1

1

1

7

76825225

-1398728619

-759808267

-546834816

3
Downloads

1

15644524

1

2

1

1

5

1

27082

1

1

3

1

5

1

76825222

6

1

42

230448585

51221330

-546834816

-546834815

76825227
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Tkachenko_Radioelektronika.pdf | 788.74 kB | Adobe PDF | -642677588 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.