Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2671
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Морфологія поверхні та оптичні властивості плівок CdSe отриманих методом квазізамкненого об’єму |
Other Titles |
Surfase morphology and optical properties of CdSe films, obtained by close-spaced sublimation method |
Authors |
Стариков, В.В.
Іващенкo, Максим Миколайович Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Перевертайло, В.Л. Starikov, V.V. Ivashchenko, Maksym Mykolayovych Perevertaylo, V.L. Иващенкo, Максим Николаевич |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-1888-3935 |
Keywords |
ПЛІВКИ СЕЛЕНІДУ КАДМІЮ МОРФОЛОГІЯ ПОВЕРХНІ КОЕФІЦІЄНТ ПРОПУСКАННЯ КОЕФІЦІЄНТ ВІДБИТТЯ ШИРИНА ЗАБОРОНЕНОЇ ЗОНИ СADMIUM SELENIDE FILMS SURFACE MORPHOLOGY TRANSMITTANCE COEFFICIENT REFLECTANCE COEFFICIENT WIDE BAND GAP |
Type | Article |
Date of Issue | 2009 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2671 |
Publisher | Вид-во СумДУ |
License | |
Citation | В.В. Старіков, М.М. Іващенкo, А.С. Опанасюк, В.Л. Перевертайло, Ж. нано- та електрон. фіз. 1 №4, 100 (2009) |
Abstract |
В роботі проведено дослідження морфології поверхні, механізмів росту та оптичних властивостей плівок CdSe, одержаних методом термічного випаровування у квазізамкненому об’ємі, які є перспективними для використання у якості поглинаючих шарів тандемних сонячних елементів та фотодетекторів. Вимірювання оптичних характеристик шарів здійснювалося методами спектрофотометричного аналізу поблизу «червоної межі» фотоактивності напівпровідника. Проведені дослідження дали можливість отримати спектральні розподіли коефіцієнтів пропускання Т(λ), відбиття R(λ), поглинання α(λ), заломлення n(λ), реальної ε1(λ) та уявної ε2(λ) частин оптичної діелектричної сталої зразків та виявити їх залежність від температури осадження плівок. // Eng In present research the investigation of surface morphology, growth mechanism and optical properties of CdSe films, obtained by thermal evaporation by quasi-closed volume method, which is promising for use as absorption layers of tandem solar cells and photodetectors was carried out. Measuring of optical characteristics layers was carried out by spectrum photometric analysis method near “red boundary” semiconductor photoactivity. This research allowed to obtained spectrum distributions of transmittance coefficients T(λ), reflectance coefficients T(λ), absorption coefficients α(λ), refraction coefficients n(λ), real ε1(λ) and imaginary ε2(λ) parts of samples optical dielectric constant and to define their dependence on the films deposition temperature.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/2671 |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Bulgaria
1
China
6
Czechia
1
Denmark
1
France
4308809
Germany
834182
Greece
1
Hungary
1
Ireland
-1522451123
Italy
1
Lithuania
1
Mexico
1
Netherlands
7
Russia
253247915
Singapore
-1522451122
Spain
1
Sweden
83228
Turkey
10
Ukraine
1124042463
United Kingdom
1047740291
United States
-1782632657
Unknown Country
-301852885
Downloads
China
2
France
1
Germany
486
Ireland
1
Lithuania
1
Singapore
1
Ukraine
-524431246
United Kingdom
1
United States
-524431244
Unknown Country
180
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
jnep_2009_V1_N4_100-109.pdf | 706.14 kB | Adobe PDF | -1048861817 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.