Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27770
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Спосіб визначення оптимальної концентрації алмазних кругів на металевих зв'язках |
Authors |
Alekseienko, Dmytro Mykhailovych
Грабченко, Анатолій Іванович Грабченко, Анатолий Иванович Hrabchenko, Anatolii Ivanovych Пижов, Іван Миколайович Пыжов, Иван Николаевич Pyzhov, Ivan Mykolaiovych Федорович, Володимир Олексійович Федорович, Владимир Алексеевич Fedorovych, Volodymyr Oleksiiovych |
ORCID | |
Keywords |
полікристалічні надтверді матеріали поликристаллические сверхтвердые материалы поверхні алмазного круга поверхности алмазного круга |
Type | Patent |
Date of Issue | 2012 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27770 |
Publisher | Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ) |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Пат. 67850 U Україна, МПК (2012.01) B24B 1/00. Спосіб визначення оптимальної концентрації алмазних кругів на металевих зв'язках / Д.М. Алексеєнко, А.І. Грабченко, І.М. Пижов, В.О. Федорович (Україна); заявник та патентовласник Сумський держ. ун-т. - № u 2011 08966; заявл. 18.07.2011; опубл. 12.03.2012, бюл. № 5. |
Abstract |
Спосіб визначення оптимальної концентрації алмазних кругів на металевих зв'язках шляхом шліфування полікристалічних надтвердих матеріалів з безперервною автономною електрохімічною правкою робочої поверхні алмазного круга.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27770 |
Appears in Collections: |
Патенти |
Views

1

8006388

1

4

8

1

1

52651

1

1

9

1

15

3

1679655

298047

37258808

47881834
Downloads

5

3

2

1

1

1679655

1

37258808

186
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
kontsentratsiy almaznykh kruhiv.pdf | 173.86 kB | Adobe PDF | 38938662 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.