Кількісне визначення контрасту електронно-мікроскопічних зображень аморфних наноматеріалів складного хімічного складу

Бобик, М.Ю.; Іваницький, В.П.; Ковтуненко, В.С.; Сватюк, О.Я.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27814

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Кількісне визначення контрасту електронно-мікроскопічних зображень аморфних наноматеріалів складного хімічного складу
Authors	Бобик, М.Ю. Іваницький, В.П. Ковтуненко, В.С. Сватюк, О.Я.
ORCID
Keywords	наноматеріали аморфний контраст розсіювання електрон атом
Type	Article
Date of Issue	2012
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27814
Publisher	Сумський державний університет
License	Copyright not evaluated
Citation	М.Ю. Бобик, В.П. Іваницький, В.С. Ковтуненко, О.Я. Сватюк, Ж. нано- електрон. фіз. 4 № 2, 02041 (2012)
Abstract	Запропоновано фізично строге визначення контрасту електронномікроскопічних зображень аморфних наноматеріалів. Показана необхідність розділення вкладу в контраст різних видів розсіювання електронів атомами зразка: пружного когерентного, пружного некогерентного та непружного. Виведені прості аналітичні співвідношення для знаходження вкладу в електронномікроскопічний контраст трьох різних видів розсіювання. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27814
Appears in Collections:	Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)