Анализ элементного состава пленок CZTSе  методом PIXE и m-PIXE

Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Коваль, Павел Васильевич; Коваль, Павел Викторович; Магилин, Д.В.; Пономарев, Александр Георгиевич; Чеонг, Х.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE
Authors	Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Koval, Pavlo Viktorovych Коваль, Павел Викторович Магилин, Д.В. Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych Чеонг, Х.
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	пленки Cu2ZnSnSe4 поглащающие слои элементный состав карты распределения
Type	Conference Papers
Date of Issue	2012
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063
Publisher	Московский государственный университет им М.В. Ломоносова
License	Copyright not evaluated
Citation	Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE [Текст] / А.С. Опанасюк, П.В. Коваль, Д.В. Магилин [и др.] // Тезисы докладов ХLIII международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами / Под ред. проф. М.И. Панасюка. – М.: Изд-во Московского университета, 2013. – C. 103.
Abstract	В этой работе в результате исследований элементного состава пленок CZTSe построены карты распределения элементов входящих в состав соединения по площади поверхности, а также определен элементный состав пленок в зависимости от режимов получения образцов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)