Аналіз плівок CZTSe методами XRD та µ-PIXE

Коваль, Павло Вікторович; Коваль, Павел Викторович; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Косяк, Володимир Володимирович; Пономарьов, Олександр Георгійович; Магілін, Д.В.; Чеонг, Х.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34064

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Аналіз плівок CZTSe методами XRD та µ-PIXE
Authors	Koval, Pavlo Viktorovych Коваль, Павел Викторович Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych Магілін, Д.В. Чеонг, Х.
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	плівки CZTSe метод m-PIXE метод XRD
Type	Conference Papers
Date of Issue	2013
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34064
Publisher	"Рута" Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича
License	Copyright not evaluated
Citation	Аналіз плівок CZTSe методами XRD та µ-PIXE [Текст] / П.В. Коваль, А.С. Опанасюк , В.В. Косяк [та ін.] // 6-та Українська наукова конференція з фізики напівпровідників: Матеріали конференції. – Чернівці: Рута, 2013. – С. 505-506.
Abstract	У роботі вивчалися плівки CZTSе, отримані методом співвипаровування Cu, Zn, Sn, і Se на скляну підкладку з провідним підшаром Мо. Для досліджень використовувались методи XRD та m-PIXE. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34064
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)