Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34188
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Влияние термического отжига на структуру дефектов и свойства наноструктурного покрытия Ti-Si-N, полученного катодным вакуумно-дуговым осаждением |
Other Titles |
Вплив термічного відпалу на структуру дефектів та властивості наноструктурованого покриття Ti-Si-N, отриманого катодним вакуумно-дуговим осадженням Influence of thermal annealing on the structure of defects and properties of nanostructures Ti-Si-N coatings obtained by cathode vacuum arc deposition |
Authors |
Pohrebniak, Oleksandr Dmytrovych
Krause-Rehberg, R. Купчишин, А.И. Дробышевская, А.А. Иващенко, В.И. Колесников, Д.А. Ердибаева, Н.К. Shypylenko, Andrii Pavlovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-9218-6492 http://orcid.org/0000-0002-1741-2525 |
Keywords |
наноструктурные покрытие наноструктурне покриття anostructured coating напружено-деформований стан напряженно-деформированное состояние stress-strain state |
Type | Article |
Date of Issue | 2013 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34188 |
Publisher | Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт" |
License | |
Citation | Влияние термического отжига на структуру дефектов и свойства наноструктурного покрытия Ti-Si-N, полученного катодным вакуумно-дуговым осаждением [Текст] / А.Д. Погребняк, R. Krause-Rehberg, А.И. Купчишин[и др.] // ВАНТ. — 2013. — №2 (84). — С. 134-139. |
Abstract |
Представлено оригінальні результати, які отримані за допомогою методів повільного пучка позитронів, рентгенівського мікроаналізу, РЗР, РЕМ з ЕДС, АСМ, а також вимірювання нанотвердості, модуля пружності при дослідженні наноструктурних покриттів з Ti-Si-N, осаджених катодним вакуумно-дуговим випаровуванням до і після відпалу при температурі 600 °С (на протязі 30 хв). Виявлено утворення твердого розчину (Ti, Si) N, в якому формується напружено-деформований стан (деформація стиску − 2,6 %), а в результаті термічного відпалу деформація зменшується незначно − до 2,3 %. У покритті Ti-Si-N, як показали вимірювання S-параметра (ДУАП), за рахунок термодифузії на інтерфейсах сегрегують дефекти, утворюючи кластери вакансій їх дефектів з високою концентрацією − від 5·10[16]см-3 до 7,5·10[17] см-3.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34188 Представлены оригинальные результаты, полученные с помощью методов медленного пучка позитронов, рентгеновского микроанализа, РОР, РЭМ с ЭДС, АСМ, а также измерения нанотвердости, модуля упругости наноструктурных покрытий из Ti-Si-N, осажденных катодным вакуумно-дуговым испарителем, до и после отжига при температуре 600 °С (в течение 30 мин). Обнаружено образование твердого раствора (Ti, Si)N, в котором формируется напряженно-деформированное состояние (деформация сжатия − 2,6 %), а в результате термического отжига деформация уменьшается незначительно − до величины 2,3 %. В покрытии Ti-Si-N, как показали измерения S-параметра (ДУАП), за счет термодиффузии на интерфейсах сегрегируют дефекты, образуя кластеры вакансионных дефектов с высокой концентрацией − от 5·10[16] до 7,5·10[17] см-3. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34188 Original results of investigations of Ti-Si-N nanostructured coatings deposited by cathodic vacuum arc evaporation are presented in this work. Investigations are provided by the supplementing each other methods: slow positron beam, XRD, SEM with EDS, RBS, AFM, as well as measurement of nanohardness and elastic modulus before and after annealing at 600 °C (for 30 min). It was found that after deposition the solid solution (Ti, Si) N is formed in coatings. In this solid solution the stress-strain state (compressive strain – 2,6 %) is occurring. As a result of thermal annealing the deformation slightly decreases to – 2,3 %. Measurements provided by method of Positron annihilation spectroscopy (PAS) show that at the interfaces of coatings the segregated defects are occurring as a result of thermal diffusion process. These defects form clusters of vacancy-type defects of a high concentration – from 5·10[16]cm-3 to 7,5·10[17] cm-3. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34188 |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Australia
1
Brazil
2
Finland
1
France
4
Germany
7516
Greece
1
Ireland
277638
Kazakhstan
3
Lithuania
1
Netherlands
3
Russia
1895
Singapore
1
Sweden
1
Turkey
4
Ukraine
5691522
United Arab Emirates
2
United Kingdom
2866401
United States
75218833
Unknown Country
5691521
Uzbekistan
2
Downloads
Belarus
2206079
China
3
France
3
Germany
2
Indonesia
1
Kazakhstan
2
Lithuania
1
Poland
1
Romania
1
Russia
1896
Ukraine
17072757
United Kingdom
1
United States
75218830
Unknown Country
136
Uzbekistan
2
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Pogrebnjak_Thermal Annealing Ti-Si-N.PDF | 810.29 kB | Adobe PDF | 94499715 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.