Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Розрахунок реальних розмірів наночастинок за АСМ зображеннями та моделювання їх магнітооптичних властивостей |
Other Titles |
Determination of the Nanoparticle Sizes Using AFM Images and Simulation of their Magnetooptical Properties Расчет реальных размеров наночастиц по АСМ изображениям и моделирование их магнитооптических свойств |
Authors |
Zlenko, Vitalii Oleksandrovych
Demydenko, Maksym Hennadiiovych Protsenko, Serhii Ivanovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-8070-1610 |
Keywords |
Атомно-силова мікроскопія МОКЕ Масив наночастинок Массив наночастиц Атомно-силовая микроскопия Atomic-force microscopy Nanoparticle array |
Type | Article |
Date of Issue | 2013 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | |
Citation | Зленко, В.О. Розрахунок реальних розмірів наночастинок за АСМ зображеннями та моделювання їх магнітооптичних властивостей [Текст] / В.О. Зленко, М.Г. Демиденко, С.І. Проценко // Журнал нано- та електронної фізики. - 2013. - Т.5, №3, Ч.ІІ. - 03055. |
Abstract |
В роботі описані геометричні та наведені результати розрахунку реальних розмірів наночастинок Ni і Co за даними атомно-силової мікроскопії, які були отримані методом термічного диспергування тонких металевих плівок на аморфних Si3N4 / Si. Результати розрахунків були використані при моделюванні магнітооптичних властивостей масивів НЧ. Показано, що оброблені за описаними в роботі співвідношеннями моделі масивів НЧ дозволяють отримати добре співпадіння між розрахунковими та отриманими експериментально методом МОКЕ даними.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649 В работе описаны геометрические модели и приведены результаты расчета реальных размеров НЧ Ni и Co на аморфных Si3N4 / Si подложках, полученых методом термодиспергирования тонких ме- таллических пленок, по данным атомно-силовой микроскопии. Результаты расчетов были использо- ваны при моделировании магнито-оптических свойств массивов НЧ. Показано, что обработанные по описанным в работе соотношениям модели массивов НЧ позволяют получить хорошее совпадение между расчетными и полученными экспериментально методом МОКЕ данными. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649 This paper describes the geometric models and presents the calculation results of the actual sizes of Ni and Co nanoparticles on the amorphous Si3N4 / Si substrates obtained by thermal annealing of thin metal films using the data of atomic force microscopy. Results were used in the simulation of magneto-optical properties of arrays of nanoparticles. It is shown that processed by described in the paper equations models allow to obtain a good agreement between calculated and experimentally obtained by MOKE method data. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649 |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Australia
1
Brazil
1
China
4
France
1
Germany
5
Greece
1
Ireland
117847
Italy
1
Japan
1
Lithuania
1
Netherlands
2
Romania
1
Russia
9
Sweden
1
Turkey
3
Ukraine
781458
United Kingdom
392897
United States
16659350
Unknown Country
781457
Downloads
China
12
France
1
Germany
2
Lithuania
1
Russia
2
Switzerland
1
Ukraine
14585657
United Kingdom
1
United States
16659351
Unknown Country
32
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Zlenko_Atomic-force microscopy.pdf | 913.09 kB | Adobe PDF | 31245060 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.