Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Morfological and structural characteristics of II–VI semiconductor thin films (ZnTe,CdTe,ZnS) |
Authors |
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych
Kurbatov, Denys Ihorovych Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych Kolesnyk, Maksym Mykolaiovych Danylchenko, Serhii Mykolaiovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-1888-3935 http://orcid.org/0000-0002-2754-6367 http://orcid.org/0000-0003-2019-8387 |
Keywords |
II-VI полупроводниковые соединения тонкие пленки кристаллическая структура дефекты кристаллической решетки рентгеновская дифракция замкнутое пространство сублимации II-VI напівпровідникові з`єднання тонкі плівки кристалічна структура дефекти кристалічної решітки рентгенівська дифракція замкнутий простір сублімації II-VI semiconductor compounds thin films crystal structure lattice defects x-ray diffraction closed space sublimation |
Type | Article |
Date of Issue | 2008 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603 |
Publisher | Publisher Taylor & Francis Group |
License | |
Citation | Morfological and structural characteristics of II–VI semiconductor thin films (ZnTe,CdTe,ZnS) /A.A. Opanasyuk, D.I. Kurbatov, V.V. Kosyak at all. // Integrated Ferroelectrics — 2009. —103. — С. 32-40. |
Abstract |
Були досліджені морфологія поверхні і мікроструктурні характеристики тонких плівок ZnTe, CdTe і ZnS, отриманих методом квазі-замкнутого обєму. Структурні особливості шарів були розглянуті методами XRD, SEM і оптичної мікроскопії. Розмір областей когерентного розсіювання, решітки мікродеформації і концентрація дефектів зсуву були оцінені з рентгенівського дифракційного розширення. Проведені дослідження показують вплив умов одержання на основні структурні характеристики тонких плівок ZnTe, CdTe і ZnS.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603 Были исследованы морфология поверхности и микроструктурные характеристики тонких пленок ZnTe, CdTe и ZnS, полученных методом квази-замкнутого объема. Структурные особенности слоев были рассмотрены методами XRD, SEM и оптической микроскопией. Размер областей когерентного рассеяния, решетки микродеформации и концентрация дефектов сдвига были оценены из рентгеновского дифракционного уширения. Проведенные исследования показывают влияние условий получения на основные структурные характеристики тонких пленок ZnTe, CdTe и ZnS. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603 The surface morphology and microstructural characteristic of ZnTe, CdTe and ZnS thin films obtained by close-spaced sublimation technique were investigated. The structural features of layers were examined by XRD, SEM and optical microscopy. Size of coherent scattering regions, lattice microstrain and stacking fault defect concentration were estimated from X-ray diffraction line broadening. The investigation performed elucidates effect of preparation conditions on main structural characteristics of ZnTe, CdTe and ZnS thin films When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3603 |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Belarus
1
Brazil
2
China
1267373628
Czechia
658594005
EU
1
Finland
1
France
3
Germany
1267373627
Greece
802930
India
1
Iran
1
Ireland
16401916
Israel
1
Italy
1
Japan
1
Lithuania
1
Netherlands
2
Pakistan
1
Poland
1
Romania
3
Russia
20
Singapore
1
Slovakia
1
Spain
1
Sweden
1
Turkey
3
Ukraine
1317188011
United Kingdom
1478834182
United States
-695459741
Unknown Country
2033888619
Vietnam
802933
Downloads
Algeria
17
Argentina
1
Australia
1
Austria
1
Belgium
4
Brazil
3
Canada
802926
China
-1537704804
Egypt
13
Ethiopia
1
France
550013502
Germany
859620394
Greece
802931
Hong Kong SAR China
-695459743
Hungary
8602421
India
4702671
Indonesia
3
Iran
2
Iraq
5
Ireland
1478834183
Israel
1
Japan
-695459742
Kenya
1
Kuwait
1
Lithuania
1044858381
Malaysia
3
Mexico
8
Moldova
2
Morocco
3
Nepal
6
Netherlands
2
Nigeria
11
North Macedonia
1
Pakistan
8
Philippines
1
Poland
2
Romania
1
Russia
10
Saudi Arabia
1
Singapore
1887103429
South Africa
1
South Korea
11
Spain
2
Sri Lanka
2
Sweden
1
Switzerland
1
Syria
2
Taiwan
2
Thailand
75809
Tunisia
2
Turkey
2
Ukraine
197490
United Kingdom
1478834180
United States
-695459751
Unknown Country
1951
Venezuela
1
Vietnam
10552293
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
ThinFilms.pdf | 943.86 kB | Adobe PDF | -594048635 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.