Study of the structural and photoluminescence properties of CdTe polycrystalline films deposited by close-spaced vacuum sublimation

Abstract

Полікристалічні плівки CdTe були отримані методом квазі-замкнутого випаровування при різних температурах підкладки (150-550С). Вимірювання рентгенівської дифракції структурних і субструктурних властивостей цих плівок були проведені для вивчення їх фазового складу і текстури. Такі параметри плівок, як розмір області когерентного розсіювання, рівень мікродеформації та середня щільність дислокацій визначається на основі розширення дифракційних піків. Морфологія поверхні, розмір зерна і механізм росту плівки були визначені методом скануючої електронної мікроскопії. Низько температурна фотолюмінесценція дозволила встановити кореляцію між точковими і протяжними дефектами структури, з одного боку, і умовами зростання з іншого. Як результат були визначені, умови зростання полікристалічних плівок CdTe з достатньо хорошими кристалами і оптичними властивостями. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3604

Поликристаллические пленки CdTe были получены методом квази-замкнутого испарения при различных температурах подложки (150-550С). Измерения рентгеновской дифракции структурных и субструктурных свойства этих пленок были проведены для изучения их фазового состава и текстуры. Такие параметры пленок, как размер области когерентного рассеивания, уровень микродеформации и средняя плотность дислокаций определяется на основе уширения дифракционных пиков. Морфология поверхности, размер зерна и механизм роста пленки были определены методом сканирующей электронной микроскопии. Низко температурная фотолюминесценция позволила установить корреляцию между точечными и протяженными дефектами структуры, с одной стороны, и условиями роста с другой. Как результат были определенны , условия роста поликристаллических пленок CdTe с достаточно хорошими кристалами и оптическими свойствами. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3604

The polycrystalline CdTe films were deposited by the close-spaced vacuum evaporation at the different substrate temperatures (150–550 1C). The X-ray diffraction measurements of structural and substructural properties of these films were carried out to study their phase composition and texture. The films’ parameters such as the coherent scattering domain size, microdeformation level and mean density of dislocations were determined based on the broadening of diffraction peaks. Surface morphology, grain size and growth mechanism of the films were determined by the scanning electron microscopy. The low temperature photoluminescence measurements allowed us to establish the correlation between the point and extended defect structure on the one hand and the growth conditions on the other. As a result, the growth conditions of CdTe polycrystalline films with fairly good crystal and optical quality were determined. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3604