Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE

Коваль, Павло Вікторович; Коваль, Павел Викторович; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Ташликов, І.С.; Пономарьов, Олександр Георгійович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38251

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE
Authors	Koval, Pavlo Viktorovych Коваль, Павел Викторович Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Ташликов, І.С. Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	тонкі плівки тонкие пленки thin films тверді розчини твердые растворы solid solutions елементний склад элементный состав elemental composition
Type	Conference Papers
Date of Issue	2014
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38251
Publisher	Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
License	Copyright not evaluated
Citation	Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE [Текст] / П.В. Коваль, А.С. Опанасюк, І.С. Ташликов, А.Г. Пономарев // Конференція молодих вчених з фізики напівпровідників "Лашкарьовські читання 2014" (2-4 квітня 2014 р.). - Київ: Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014. - C.133.
Abstract	Тонкі плівки твердого розчину Pb1-xSnxS можуть бути використані для створення приймачів інфрачервоного випромінювання, твердотільних лазерів та ін. Також ці плівки привертають до себе підвищену увагу дослідників як поглинаючі шари дешевих тонкоплівкових сонячних елементів, альтернативні таким традиційним матеріалам як CuInSe2, CuIn1–xGaxSe2, Cu2ZnSnS4(Se) та CdTe. У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxTe, отримані методом гарячої стінки у вакуумі на скляних підкладках при різнф температурі нанесення. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, µ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)