Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38458
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Топологічні особливості парофазних наноструктур SnTe на поліаміді
Other Titles Топологические особенности парофазных наноструктур SnTe на полиамиде
Topological Features of the Vapor-Phase SnTe Nanostructures on Polyamide
Authors Салій, Я.П.
Чав’як, І.І.
Биліна, І.С.
Фреїк, Д.М.
ORCID
Keywords Станум телурид
Наноструктури
Парофазні технології
Атомно-силова мікроскопія
Процеси росту
Теллурид олова
Наноструктуры
Парофазные технологии
Атомно-силовая микроскопия
Процессы роста
Tin tellurid
Nanostructures
Vapor-phase technology
Atomic force microscopy
Growth processes
Type Article
Date of Issue 2014
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38458
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Я.П. Салій, І.І. Чав’як, І.С. Биліна, Д.М. Фреїк, Ж. нано- електрон. фіз. 6 № 4, 04020 (2014)
Abstract Наведено результати дослідження наноструктур на поверхні тонких плівок станум телуриду, осаджених з парової фази на підкладках поліаміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Комп’ютерний аналіз результатів атомно-силової мікроскопії виявив вплив технологічних факторів на особливості форм та поверхневої орієнтації наноострівців. Показано, що наноструктури різного розміру є куполоподібними з малим відношенням їх висоти до латерального діаметру. Встановлено слабку залежність симетрії острівців від технологічних факторів осадження.
Приведены результаты исследования наноструктур на поверхности тонких пленок теллурида олова, осажденных из паровой фазы на подложках полиамида методом открытого испарения в вакууме. Компьютерный анализ результатов атомно-силовой микроскопии выявил влияние технологических факторов на особенности форм и поверхностной ориентации наноостровков. Показано, что наноструктуры различного размера являются куполообразными с малым отношением их высоты к латеральному диаметра. Установлено слабую зависимость симметрии островков от технологических факторов осаждения.
The results of the study of nanostructures on the surface of tin telluride thin films deposited from the vapor phase on polyamide substrates by open evaporation in vacuum are presented. Computer analysis of the results of the atomic force microscopy has revealed the influence of the technological factors on the shape features and surface orientation of nanoislands. It is shown that nanostructures of various sizes are dome-shaped with a small ratio of height to lateral diameter. A weak dependence of the island symmetry on the technological factors of deposition is found.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Australia Australia
1
Canada Canada
1
China China
56
Finland Finland
1
France France
2
Germany Germany
52252
Ireland Ireland
16138
Italy Italy
3
Lithuania Lithuania
1
Russia Russia
4
Ukraine Ukraine
205928
United Kingdom United Kingdom
104501
United States United States
1201905
Unknown Country Unknown Country
1786721

Downloads

China China
8
France France
1
Germany Germany
2
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
617088
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
1201905
Unknown Country Unknown Country
1786722

Files

File Size Format Downloads
Saliy_Chaviak_ Bylina_Freik.pdf 719.63 kB Adobe PDF 3605728

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.