Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа |
Authors |
Sokolov, Serhii Viktorovych
Довгошея, Д.А. |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0001-8707-4616 |
Keywords |
электронный микроскоп нанообъект електронний мікроскоп нанооб`єкт electron microscope nanoobject |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2009 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960 |
Publisher | Изд-во СумДУ |
License | |
Citation | Соколов, С.В. Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа [Текст] / С.В. Соколов, Д.А. Довгошея // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : 21-24 квітня 2009 р. - Суми : СумДУ, 2009. - С. 43. |
Abstract |
Целью данной работы является исследование тест-объекта для
определения разрешающей способности растрового электронного
микроскопа за счет формирования его структуры в виде участков
ажурной микросетки и сплошной пленки с нанесенными на них
равномерно расположенными шарообразными частицами олова,
которые отличаются от других тем, что полученная структура имеет
размеры от 10 мкм до 2 нм и структурные элементы с высоким
контрастом из-за различных эмиссионных свойств применяемых
материалов и условий формирования изображения, что позволяет
определить разрешающую способность в диапазоне увеличений от
500 до 100000 крат. Наличие шаров также позволяет контролировать
правильность построения изображения в направлении строки и кадра,
исключает необходимость корректировки масштабных искажений
изображения при наклоне образца. Таким образом получаем
островковые сферические частицы олова, закрепленных на угольной
микросетке с размером ячеек от 0,2 мкм до 10 мкм.
При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960 |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Australia
1
Canada
1
China
6
France
5
Germany
610665
Greece
1
Indonesia
1
Ireland
102875
Lithuania
1
Netherlands
5
Poland
1
Russia
29
Turkey
5
Ukraine
3491756
United Kingdom
1759218
United States
47892285
Unknown Country
3491755
Downloads
China
2
France
2
Germany
382
Lithuania
1
Singapore
1
Ukraine
10066988
United Kingdom
1
United States
38435962
Unknown Country
118
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
ElIT_2009.pdf | 3.56 MB | Adobe PDF | 48503457 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.