Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE

Коваль, Павло Вікторович; Коваль, Павел Викторович; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Домнич, О.В.; Ташликов, І.С.; Пономарьов, Олександр Георгійович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40168

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE
Authors	Koval, Pavlo Viktorovych Коваль, Павел Викторович Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Домнич, О.В. Ташликов, І.С. Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	плівки пленки film напівпровідники полупроводники semiconductors
Type	Conference Papers
Date of Issue	2014
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40168
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Аналіз елементного складу плівок Pb[1-x]Sn[x]S методами PIXE та m-PIXE [Текст] / О.В. Домнич, П.В. Коваль, А.С. Опанасюк та ін. // Фізика, електроніка, електротехніка : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 21-26 квітня 2014 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми : СумДУ, 2014. - С. 204.
Abstract	У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxS, отримані термічним випаровуванням у вакуумі методом гарячої стінки на скляних підкладках. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, μ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ. Подальший аналіз спектрів PIXE здійснювався з використанням програми GUPIXWIN.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)