Ідентифікація зображень нано та мікро-структур досліджуваної поверхні за допомогою інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології

Закалюжна, Наталія Валеріївна

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40646

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Ідентифікація зображень нано та мікро-структур досліджуваної поверхні за допомогою інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології
Authors	Zakaliuzhna, Nataliia Valeriivna
ORCID
Keywords	скануючий тунельний мікроскоп сканирующий тунельный микроскоп метод інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології метод информационно-экстримальной интелектуальной технологии
Type	Conference Papers
Date of Issue	2015
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40646
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Закалюжна, Н.В. Ідентифікація зображень нано та мікро-структур досліджуваної поверхні за допомогою інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології [Текст] / Н.В. Закалюжна ; кер. І.В. Шелехов // Інформатика, математика, автоматика : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми : СумДУ, 2015. — С. 57.
Abstract	Розпізнавання та дослідження частинок кластерних матеріалів із застосуванням скануючого тунельного мікроскопа (СТМ) є важливим етапом при створенні нових перспективних матеріалів на їх основі. Оскільки СТМ дозволяє отримувати топографічні зображення поверх- ні постійного тунельного струму, то ідентифікація подібних СТМ- зображень досить ускладнена і вимагає залучення достовірних зобра- жень, побудованих теоретичним шляхом.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)