Characterizations of Structural Properties of ZnO Thin Films Depending on the Experimental Conditions

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40814

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Characterizations of Structural Properties of ZnO Thin Films Depending on the Experimental Conditions
Authors	Kurbatov, Denys Ihorovych Klymov, Oleksii Volodymyrovych Ladnyi, D.O.
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-2754-6367
Keywords	тонкие пленки тонкі плівки thin film оксид цинка оксид цинку zinc oxide
Type	Conference Papers
Date of Issue	2015
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40814
Publisher	Sumy State University
License	Copyright not evaluated
Citation	Klymov, O.V. Characterizations of Structural Properties of ZnO Thin Films Depending on the Experimental Conditions [Текст] / O.V. Klymov, D.O. Ladniy, D.I. Kurbatov // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2015. — С. 90.
Abstract	Zinc oxide (ZnO) is one of the most promising materials for the fabrication of optoelectronic devices operating in the blue and ultra-violet (UV) spectral regions, owing to its direct wide band gap (Eg ~3.37 eV) and large exciton binding energy (~60 meV).
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)