Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40981
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС |
Authors |
Маркович, Л.М.
Лінтур, М.І. Подгорецька, Г.Ю. |
ORCID | |
Keywords |
наноплівки нанопленки nanofilms пучки електронів пучки электронов electron beams термічне випаровування термическое испарение thermal evaporation дослідження исследование research |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2015 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40981 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Маркович, Л.М. Дослідження наноплівок As[2]S[3] на Si і SiO[2] методом ЕФС [Текст] / Л.М. Маркович, М.І. Лінтур, Г.Ю. Подгорецька // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2015. — C. 138. |
Abstract |
Поверхня відіграє визначну роль при функціонуванні мікро- або нанооб’єктів, а також при їх взаємодії з підкладинками, на які вони напорошені та з навколишнім середовищем. Тому дослідження поверхонь перспективних наноструктур різними методами є вкрай важливим для сучасної фізики, техніки і технології. Для зондування досліджуваних поверхонь широко застосовуються в наукових дослідженнях пучки електронів. |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views

1

1

217359

2403

37828

1

401

1

1

1732069

736940

18573231

23032305
Downloads

2

23032307

9606

1

1732070

1

18573232

2
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Markovych_thermal evaporation.pdf | 285.14 kB | Adobe PDF | 43347221 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.