Advanced Noise Generator Method of Flicker Noise Measurement

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40983

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Advanced Noise Generator Method of Flicker Noise Measurement
Authors	Reschikoff, S.E.
ORCID
Keywords	белый шум білий шум white noise полупроводниковые приборы напівпровідникові прилади semiconductor devices
Type	Conference Papers
Date of Issue	2015
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/40983
Publisher	Sumy State University
License
Citation	Reschikoff, S.E. Advanced Noise Generator Method of Flicker Noise Measurement [Текст] / S.E. Reschikoff; supervisor V.A. Sergeev // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 20-25 квітня 2015 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2015. — С. 143.
Abstract	Noise of electronic devices can be measured by comparison using a noise source at input and an output noise meter. It is noise generator method. It can be used to easily obtaining equivalent input noise of semiconductor devices. But this method is usually recommended for higher frequencies, because measurement generator must give white noise. Besides this, we obtain only noise level at broad band.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)