Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4228
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Моделирование распределения имплантированных ионов по глубине
Authors Sokolov, Serhii Viktorovych  
Марченко, Т.В.
ORCID http://orcid.org/0000-0001-8707-4616
Keywords метод ионной имплантации
метод іонної імплантації
ion implantation
Type Conference Papers
Date of Issue 2010
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4228
Publisher Видавництво СумДУ
License
Citation Соколов, С.В. Моделирование распределения имплантированных ионов по глубине [Текст] / С.В. Соколов, Т.В. Макаренко // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : Суми, 19-23 квітня 2010 року / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми : СумДУ, 2010. — С. 166.
Abstract
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Belarus Belarus
1
Canada Canada
1
China China
1
Finland Finland
1
France France
2
Germany Germany
130
Greece Greece
1
Ireland Ireland
997254
Kazakhstan Kazakhstan
1
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
11392
Russia Russia
14
Singapore Singapore
1
Spain Spain
1
Turkey Turkey
1
Ukraine Ukraine
16996185
United Kingdom United Kingdom
7992320
United States United States
163976464
Unknown Country Unknown Country
189973822

Downloads

China China
2
France France
2
Germany Germany
163976463
Ukraine Ukraine
33989678
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
137979104
Unknown Country Unknown Country
189973823

Files

File Size Format Downloads
ElIT_2010.pdf 8.31 MB Adobe PDF 525919073

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.