Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4228
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Моделирование распределения имплантированных ионов по глубине |
Authors |
Sokolov, Serhii Viktorovych
Марченко, Т.В. |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0001-8707-4616 |
Keywords |
метод ионной имплантации метод іонної імплантації ion implantation |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2010 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4228 |
Publisher | Видавництво СумДУ |
License | |
Citation | Соколов, С.В. Моделирование распределения имплантированных ионов по глубине [Текст] / С.В. Соколов, Т.В. Макаренко // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : Суми, 19-23 квітня 2010 року / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми : СумДУ, 2010. — С. 166. |
Abstract | |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Belarus
1
Canada
1
China
1
Finland
1
France
2
Germany
130
Greece
1
Ireland
997254
Kazakhstan
1
Lithuania
1
Netherlands
11392
Russia
14
Singapore
1
Spain
1
Turkey
1
Ukraine
16996185
United Kingdom
7992320
United States
163976464
Unknown Country
189973822
Downloads
China
2
France
2
Germany
163976463
Ukraine
33989678
United Kingdom
1
United States
137979104
Unknown Country
189973823
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
ElIT_2010.pdf | 8.31 MB | Adobe PDF | 525919073 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.