Структура окислених і неокислених поверхонь шарув а тих кристалів InTe

Abstract

Методами атомно-силової мікроскопії і рентгенофазового аналізу досліджена топологія і структура як неокисленої, так і окисленої поверхні шаруватого кристала InTe. Максимальне відхилення неод- норідності неокисленої поверхні кристала InTe не перевищує ~ 2 нм, що свідчить про її високу якість. Показано, що відпал кристала InTe на повітрі при температурах 400 ºС і 650 ºС по-різному впливають на топологію поверхні кристала. Також встановлено, що в процесі окислення при 650 ºС в приповерх- невій області утворюються дві хімічні фази: In2O3 і In2Te3 кубічної структури.

Методами атомно-силовой микроскопии и рентгенофазового анализа исследована топология и структура как неокисленной, так и окисленной поверхности слоистого кристалла InTe. Максимальное отклонение неоднородности неокисленной поверхности кристалла InTe не превышает ~ 2 нм, что сви- детельствует о ее высоком качестве. Показано, что отжиги кристалла InTe на воздухе при температу- рах 400 ºС и 650 ºС по-разному влияют на топологию поверхности кристалла. Также установлено, что в процессе окисления при 650 ºС в приповерхностной области образуются две химические фазы: In2O3 и In2Te3 кубической структуры.

Topology and structure of oxidized and unoxidized surfaces of InTe layered crystal were investigated using atomic force microscopy and X-ray phase analysis. The maximum deviation of inhomogeneity of unoxidized surface of InTe does not exceed 2 nm demonstrating its high quality. It is shown that annealings of InTe crystal in air at 400 ºС and 650 ºC affect the surface topology differently. It is also established that oxidation at 650 ºС results in formation of two chemical phases in the near-surface region: In2O3 and In2Te3 of cubic structure.