Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43872
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Применение микроволновой сканирующей микроскопии в производстве нанокомпонент |
Authors |
Rybalko, Oleksandr Oleksandrovych
Кобрик, А.А. |
ORCID | |
Keywords |
скануюча мікрохвильова мікроскопія сканирующая микроволновая микроскопия scanning microwave microscopy |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2013 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/43872 |
Publisher | Сумский государственный университет |
License | |
Citation | Кобрик, А.А. Применение микроволновой сканирующей микроскопии в производстве нанокомпонент [Текст] / А.А. Кобрик, А.А. Рибалко // Фізика, електроніка, електротехніка : матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 22-27 квітня 2013 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми : СумДУ, 2013. - С. 78. |
Abstract |
Сканирующая микроволновая микроскопия (СММ) относится к современному направлению экспериментальных исследований материалов и объектов с наноразмерной разрешающей способностью. Наибольшее развитие СММ достигла в области диагностики высокотемпературных полупроводниковых материалов и структур. |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Australia
1
Canada
1
France
4
Germany
4
Greece
1
Indonesia
1
Ireland
13891
Italy
1
Lithuania
1
Netherlands
644
Russia
1
Sweden
1
Ukraine
431057
United Kingdom
73672
United States
2712061
Unknown Country
146054
Downloads
Germany
2
Indonesia
1
Lithuania
1
Russia
10
Ukraine
431058
United Kingdom
1
United States
2712062
Unknown Country
8
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Rybalko_scanning_microwave_microscopy.pdf | 299.56 kB | Adobe PDF | 3143143 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.