Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44803
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Contrast of Electron Microscopy Images of Amorphous Objects |
Other Titles |
Контраст электронномикроскопических изображений аморфных объектов Контраст електронномікроскопічних зображень аморфних об’єктів |
Authors |
Svatiuk, O.Ya.
|
ORCID | |
Keywords |
Electron microscopy Electron diffraction Amplitude contrast Amorphous material Microstructure Електронна мікроскопія Дифракція електронів Амплітудний контраст Аморфні матеріали Мікроструктура Электронная микроскопия Дифракция электронов Амплитудный контраст Аморфные материалы Микроструктура |
Type | Article |
Date of Issue | 2016 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44803 |
Publisher | Sumy State University |
License | Copyright not evaluated |
Citation | O.Ya. Svatiuk, J. Nano- Electron. Phys. 8 No 1, 01005 (2016) |
Abstract |
Запропоновано визначення контрасту електронномікроскопічних зображень як функції електронних потоків розсіяних в межах апертурної діафрагми різними локальними ділянками об’єкту. Обґрунтовано використання такого підходу для кількісного визначення величини амплітудного (абсорбційного) контрасту на зображеннях аморфних об’єктів з різними типами гетерогенності атомної та континуальної структури. Важливою особливістю визначеного контрасту є лінійна залежність від різниці електронних потоків, які формують зображення, та зручна область змін величини контрасту від 0 до 1 відносних одиниць. Предложено определение контраста электронномикроскопических изображений как функции электронных потоков, рассеянных в пределах апертурной диафрагмы разными локальными участками объекта. Обосновано использование такого подхода для количественного определения величины амплитудного (абсорбционного) контраста на изображениях аморфных объектов с разными типами гетерогенности атомной и континуальной структуры. Важной особенностью определенного контраста есть линейная зависимость от разности электронных потоков, которые формируют изображение, и удобный диапазон изменений контраста от 0 до 1 относительных единиц. It has been proposed to determine the contrast in electron microscopy image via the total electron fluxes scattered beyond the aperture diaphragm by local areas of the object under study to analyze quantitatively the amplitude (absorption) contrast of the amorphous objects with different types of heterogeneities of the atomic and continual structure. The significant properties of the determined contrast are its linear dependence on the difference of electron beam fluxes that form the image and a convenient range of variation from 0 to 1 relative units. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views

1

1

3

-1395533074

631592

1

1

1

169212590

48794181

-1794166050

169212589

22453
Downloads

1

1

1

1304902315

1

1

507636363

109469

1

1263183

1

1

1

1

-1395533073

1

169212591

1

-1794166051

23437766

1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Svatiuk.pdf | 244.3 kB | Adobe PDF | -1183137424 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.