Еліпсометричні дослідження низькорозмірних структур

Карпуша, Василь Данилович; Швець, Уляна Станіславівна

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45066

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Еліпсометричні дослідження низькорозмірних структур
Authors	Karpusha, Vasyl Danylovych Shvets, Uliana Stanislavivna
ORCID	http://orcid.org/0009-0004-2460-2273 http://orcid.org/0000-0002-1518-4047
Keywords	аморфні металеві сплави еліпсометрія обернена задача еліпсометрії
Type	Technical Report
Date of Issue	2015
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45066
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Еліпсометричні дослідження низькорозмірних структур [Текст] : звіт про НДР (заключний) / Кер. В.Д. Карпуша. - Суми : СумДУ, 2015. - 85 с.
Abstract	У роботі були вирішені такі завдання: удосконалення методики спектроеліпсометричних досліджень оптичних властивостей поверхневих шарів аморфних сплавів; визначення спектральних залежностей оптичної товщини поверхневого шару, показників заломлення та поглинання поверхневого шару і підкладки аморфних сплавів Ni40Fe40B20, Ni40Fe50B10 із різним якісним станом поверхні; дослідження зміни структури та об’ємних часток фазових складових аморфного сплаву Ni85C15 унаслідок деформації; вивчення впливу бомбардування поверхні низькоенергетичними іонами аргону на оптичні властивості аморфних сплавів Ni40Fe40B20, Ni40Fe50B10.
Appears in Collections:	Звіти з наукових досліджень