Визначення абсолютного виходу фотонів з поверхонь наноструктурованих матеріалів

Маркович, Л.М.; Лінтур, М.І.; Приходько, М.В.; Подгорецька, Г.Ю.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45982

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Визначення абсолютного виходу фотонів з поверхонь наноструктурованих матеріалів
Authors	Маркович, Л.М. Лінтур, М.І. Приходько, М.В. Подгорецька, Г.Ю.
ORCID
Keywords	фотони фотоны photons наноструктуровані плівки наноструктурированные пленки nanostructured films
Type	Conference Papers
Date of Issue	2016
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45982
Publisher	Сумський державний університет
License	Copyright not evaluated
Citation	Визначення абсолютного виходу фотонів з поверхонь наноструктурованих матеріалів [Текст] / Л.М. Маркович, М.І. Лінтур, М.В. Приходько, Г.Ю. Подгорецька // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 18-22 квітня 2016 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми: СумДУ, 2016. - С. 148-149.
Abstract	При визначенні абсолютного виходу фотонів виникають певні труднощі пов’язані з декількома причинами. Зокрема, при виконанні даних експериментів необхідно точно виміряти величину сигналу, який проходить через систему реєстрації і аналізу оптичного випромінювання від еталонного джерела та від досліджуваного зразка. При цьому для досягнення точності в визначенні величини сигналів, що порівнюємо (від еталону і досліджуваного зразка) необхідно всі виміри виконувати при одних і тих же умовах: в однакових спектральних інтервалах частот, в однакових умовах збору і аналізу оптичного випромінювання.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)