Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45991
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Определение температуры перегрева силовых SiC-диодов Шоттки
Authors Деменский, А.Н.
Ерохин, С.Ю.
Краснов, В.А.
Шутов, С.В.
ORCID
Keywords кристали
кристаллы
crystals
діоди
диоды
diodes
Type Conference Papers
Date of Issue 2016
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/45991
Publisher Сумский государственный университет
License
Citation Определение температуры перегрева силовых SiC-диодов Шоттки [Текст] / А.Н. Деменский, С.Ю. Ерохин, В.А. Краснов, С.В. Шутов // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 18-22 квітня 2016 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми: СумДУ, 2016. - С. 159.
Abstract От температуры кристалла во время работы зависят эксплуатационные параметры и характеристики надежности полупроводниковых диодов. Поэтому разработка способов, позволяющих достаточно точно определять температуру кристалла с целью выбора наиболее оптимальных режимов эксплуатации полупроводниковых приборов является актуальной задачей. Более предпочтительными являются неразрущающие способы измерения, поскольку они не требуют осуществления раскорпусировки приборов.
Appears in Collections: Наукові видання (ЕлІТ)

Views

Canada Canada
1
China China
1
France France
3
Germany Germany
2
Ireland Ireland
8061
Italy Italy
1
Lithuania Lithuania
1
Malaysia Malaysia
1
Netherlands Netherlands
1
Poland Poland
10
Russia Russia
1
Ukraine Ukraine
167001
United Kingdom United Kingdom
84549
United States United States
1096824
Unknown Country Unknown Country
14

Downloads

China China
323
Germany Germany
3
Lithuania Lithuania
1
Poland Poland
4
Russia Russia
1
Ukraine Ukraine
317880
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
837177
Unknown Country Unknown Country
9

Files

File Size Format Downloads
Krasnov_diodes.pdf 441.36 kB Adobe PDF 1155399

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.