Structural and microstructural properties of CdxZn1-xTe films deposited by Close Spaced Sublimation

Abstract

В роботі були досліджені структурні властивості (мікронапруження, текстура, період гратки, розмір областей когерентного розсіювання) та хімічний склад плівок Cd1-xZnxTe (CZT) зі змінною концентрацією цинку. Шари отримані методом термічного випаровування в квазізамкненому об’ємі на підкладках зі скла, покритого молібденом. Властивості плівок були досліджені за допомогою методів рентгенівської дифрактометрії, енергодисперсної спектроскопії, скануючої електронної мікроскопії. Концентрація цинку в шарах CdZnTe була визначена за результатами EDS та за значеннями параметра кристалічної гратки матеріалу, відповідно до літературних даних. Було встановлено, що шари CZT мали концентрації цинку: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.

В работе были исследованы структурные свойства (микронапряжения, текстура, период решетки, размер областей когерентного рассеивания) и химический состав пленок Cd1-xZnxTe (CZT) с переменной концентрацией цинка. Слои получены методом термического испарения в квазизамкнутом объеме на подложках со стекла, покрытого молибденом. Свойства пленок были исследованы с помощью методов рентгеновской дифрактометрии, енергодисперсной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии. Концентрация цинка в слоях CdZnTe была определена по результатам EDS и по значению параметра кристаллической решетки материала, в соответствии с литературными данными. Было установлено, что слои CZT имели концентрации цинка: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.

In this work the structural properties (microstresses, texture, lattice parameter, coherent scattering domains size) and chemical composition of Cd1-xZnxTe (CZT) films with variable zinc concentration were studied. Films were deposited on molybdenum coated glass substrates by close spaced vacuum sublimation method (CSVS). Properties of samples were investigated by XRD (X-ray diffraction), EDS (energy dispersive spectroscopy), SEM (scanning electron microscopy). Zinc concentration in CdZnTe layers was determined by EDS and from the lattice parameter, according to the literature data. Namely, it was determined that CZT films had following Zn concentrations: x = 0.09, x = 0.24, x = 0.30.