Structural features of ZnOxS1- nanostructured films

Бересток, Таисия Александровна; Опанасюк, Надежда Николаевна; Опанасюк, Анатолий Сергеевич

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46114

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Structural features of ZnOxS1- nanostructured films
Other Titles	Структурные особенности наноструктурированных пленок ZnOxS1-x
Authors	Berestok, Taisiia Oleksandrivna Opanasiuk, Nadiia Mykolaivna Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	структурні особливості структурные особенности structural features наноструктури наноструктуры nanostructure ZnOxS1-x
Type	Conference Papers
Date of Issue	2014
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46114
Publisher	IEEE Publishing
License
Citation	Berestok, T.O. Structural features of ZnOxS1- nanostructured films [Text] / T.O. Berestok, A.S. Opanasyuk, N.M. Opanasyuk // 23nd International Crimean Conference «Microwave & Telecommunication Technology», (СriMiCo-2014), Sevastopol', 7-13 September. - Sevastopol, 2014. - P. 777-778.
Abstract	В работе методом химического осаждения из растворов ацетата цинка, тиамочевины и аммиака получены наноструктурированные слои твердых растворов ZnOxS1-x. Структурные особенности пленок ZnOxS1-x исследованы методами растровой микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. В результате установлено влияние времени осаждения на элементный и фазовый состав тонких слоев, а также их структурные характеристики, такие как период решетки и качество текстуры. In this paper, ZnOxS1-x nanostructured flayers were obtained by chemical bath deposition from solutions of zinc acetate, ammonia and thiourea. Structural features of ZnOxS1-x films were studied by scanning electron microscopy and X-ray diffraction. It is found the effect of condensation time on the elemental and phase composition of the thin layers, as well as their structural characteristics, such as lattice constants and growth texture.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)