Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень

Бондаренко, М.О.; Бондаренко, Ю.Ю.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46227

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень
Authors	Бондаренко, М.О. Бондаренко, Ю.Ю.
ORCID
Keywords	нанометричні дослідження нанометрические исследования nanometric research
Type	Conference Papers
Date of Issue	2016
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46227
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Бондаренко, М.О. Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень [Текст] / М.О. Бондаренко, Ю.Ю. Бондаренко // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 18-22 квітня 2016 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми: СумДУ, 2016. - С. 200.
Abstract	Задля підвищення швидкодії і точності проведення досліджень за допомогою атомно-силового мікроскопу (АСМ), авторами запропоновано провести автоматизацію дослідницького обладнання, задля усунення зовнішнього впливу на процес діагностування з боку оператора. Для цього запропонований і технічно реалізований автоматизований комплекс для нанометричних досліджень.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)