Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/52306
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Composition dependence of structural and optical properties of Cd1-xZnxTe thick films obtained by the close-spaced sublimation |
Authors |
Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych
Kosyak, Volodymyr Volodymyrovych Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych Čerškus, A. Dauksta, E. Hnatenko, Yurii Pavlovych Gnatenko, Yurii Pavlovych Grase, L. Vecstaudza, J. Medvids, A. Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-6866-0414 http://orcid.org/0000-0002-8173-3948 http://orcid.org/0000-0002-1888-3935 |
Keywords |
кристалічна структура кристаллическая структура crystal structure потрійні напівпровідникові сполуки тройные полупроводниковые соединения semiconducting ternary compounds дефекти гратки дефекты решетки lattice defects рентгенівська дифракція рентгеновская дифракция X-ray diffraction фотолюмінесценція фотолюминесценция photoluminescence Раманівська спектроскопія Рамановская спектроскопия Raman spectroscopy |
Type | Article |
Date of Issue | 2016 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/52306 |
Publisher | Elsevier |
License | |
Citation | Composition dependence of structural and optical properties of Cd1-xZnxTe thick films obtained by the close-spaced sublimation / V. Kosyak, Y. Znamenshchykov, A. Čerškus [et al.] // Journal of Alloys and Compounds. - 2016. - Vol. 682. - P. 543–551. |
Abstract |
У даній роботі представлені результати структурної, фотолюмінесценції та рамановської характеристики товстих плівок Cd1-xZnxTe з різною концентрацією цинку, отриманих методом вакуумної сублімаціїз близькою відстанню. Аналіз зразків рентгенівських променів дозволяє визначити вплив концентрації цинку на якість кристалів плівок. Було встановлено, що зразки з х ≈ 0,10 і х ≈ 0,32 мають високу якість кристалів. Однак зі збільшенням концентрації цинку якість кристала зменшується. Цей результат був підтверджений дослідженням фотолюмінесценції. А саме, спостерігалося значне погіршення оптичних властивостей зразків з високою концентрацією цинку (х> 0,32). Спектроскопія комбінаційного розсіювання показує співвідношення між концентрацією цинку і коливальними властивостями плівок. Крім того,метод мікрораманів показує, що отримані плівки є однорідними і вільними від включень телуру. В настоящей работе представлены результаты структурной, фотолюминесценции и рамановской характеристики толстых пленок Cd1-xZnxTe с различной концентрацией цинка, полученных методом вакуумной сублимации с близким расстоянием. Анализ рентгенограмм позволяет определить влияние концентрации цинка на качество кристаллов пленок. Было обнаружено, что образцы с x ≈ 0,10 и x ≈ 0,32 имеют высокое качество кристалла. Однако с увеличением концентрации цинка качество кристаллов уменьшается. Этот результат был подтвержден исследованием фотолюминесценции. А именно, наблюдалось значительное ухудшение оптических свойств для образцов с высокой концентрацией цинка (х> 0,32). Рамановская спектроскопия выявляет связь между концентрацией цинка и колебательными свойствами пленок. Кроме того, метод микрораманов показал, что полученные пленки являются однородными и не содержат включений теллура. This paper reports the results of structural, photoluminescence and Raman characterization of thick Cd1−xZnxTe films with different zinc concentration obtained by the close spaced vacuum sublimation method. The analysis of the X-rays patterns allows us to determine the effect of the zinc concentration on crystal quality of the films. It was found that samples with x ≈ 0.10 and x ≈ 0.32 have high crystal quality. However, with increasing of zinc concentration the crystal quality decreases. This result was confirmed by the photoluminescence study. Namely, the significant degradation of optical properties for the samples with high zinc concentration (x > 0.32) was observed. Raman spectroscopy reveals the relation between zinc concentration and vibrational properties of the films. Also, the micro-Raman method shows that obtained films are uniform and free of tellurium inclusions. |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Belgium
1
Canada
1
China
500356419
EU
1
Finland
3075453
France
2
Germany
-1264869357
Greece
1
Ireland
16852302
Italy
1
Japan
1
Lithuania
1
Netherlands
16906
Singapore
507173854
Sweden
125384
Ukraine
1250888239
United Kingdom
176640627
United States
-209270774
Unknown Country
1962595232
Vietnam
308531
Downloads
Bulgaria
1
Canada
1
China
-676577118
Germany
2
India
2
Ireland
1
Japan
5
Lithuania
1
Mexico
1
Norway
1
Poland
1
South Korea
1
Thailand
1
Ukraine
507173854
United Kingdom
33810
United States
1704559703
Unknown Country
69
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Kosyak_Znamenshchykov_Gnatenko.pdf | 1.11 MB | Adobe PDF | 1535190337 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.