The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1-xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation

Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Ponomarov, А.А.; Romanenko, A.V.; Stanislavov, A.S.; Medvids, A.; Shpetnyi, Ihor Oleksandrovych; Gorobets, Yu.I.; Dauksta, E.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/52324

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1-xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation
Authors	Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Ponomarov, А.А. Romanenko, A.V. Stanislavov, A.S. Medvids, A. Shpetnyi, Ihor Oleksandrovych Gorobets, Yu.I. Dauksta, E.
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-6866-0414 http://orcid.org/0000-0002-1888-3935 http://orcid.org/0000-0002-6124-4696
Keywords	потрійні напівпровідникові сполуки тройные полупроводниковые соединения semiconducting ternary compounds рентгенівська дифракція рентгеновская дифракция X-ray diffraction кристалічна структура кристаллическая структура crystal structure осадження полікристалів осаждение поликристаллов polycrystalline deposition тверді розчини твердые растворы solid solutions
Type	Article
Date of Issue	2017
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/52324
Publisher	Elsevier
License
Citation	The surface morphology, structural properties and chemical composition of Cd1−xZnxTe polycrystalline thick films deposited by close spaced vacuum sublimation / Y.V. Znamenshchykov, V.V. Kosyak, A.S. Opanasyuk [et al.] // Materials Science in Semiconductor Processing. - 2017. - Vol. 63. - P. 64-73.
Abstract	Тонкі полікристалічні плівки Cd1-xZnxTe з х варіювалися від 0,37 до 0,80 були отримані метод вакуумної сублімація з близькою відстанню. Для дослідження властивостей структурних властивостей були проведені дослідження PIXE і Раман. Визначення хімічного складу плівок за допомогою EDS, PIXE і XRD показало гарне співвідношення результатів. Раман-спектроскопія виявляє зв'язок між концентрацією цинку і коливальними властивостями плівок. Дослідження просторового розподілу хімічних елементів на поверхні плівки за допомогою мікропіксела і мікрорамановской спектроскопії показали, що плівки однорідні і не містять вторинних фаз, таких як CdTe, ZnTe і Те Тонкие поликристаллические пленки Cd1-xZnxTe с x варьировались от 0,37 до 0,80 были получены методом вакуумного сублимации с близким расстоянием. Для исследования свойств структурных структур были проведены исследования PIXE и Raman. Определение химического состава пленок с помощью EDS, PIXE и XRD показало хорошее соотношение результатов. Рамановская спектроскопия выявляет связь между концентрацией цинка и колебательными свойствами пленок. Исследования пространственного распределения химических элементов на поверхности пленки с помощью микропиксела и микрорамановской спектроскопии показали, что пленки однородны и не содержат вторичных фаз, таких как CdTe, ZnTe и Te. Thick polycrystalline Cd1−xZnxTe films with x ranged from 0.37 to 0.80 were obtained by the close spaced vacuum sublimation method. In order to investigate properties of the films structural, PIXE and Raman studies were carried out. Determination of chemical composition of the films by EDS, PIXE and XRD has shown good correlation of results. Raman spectroscopy reveals the relation between zinc concentration and vibrational properties of the films. Studies of the spatial distribution of the chemical elements on the film surface by microPIXE and micro-Raman spectroscopy have shown that films are uniform and free of secondary phases such as CdTe, ZnTe and Te inclusions.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)