Дослідження статистисних властивостей самоподібних систем

Abstract

Побудовано числову модель, що дозволяє розраховувати кількісні параметри морфології поверхонь наноматеріалів виходячи з їх електронно мікроскопічних зображень. Розроблено комп’ютерні алгоритми для обчислення фрактальних вимірностей самоподібних структур, коефіцієнтів кластерізації та розподілів ймовірностей. Побудовано теоретичну модель квазірівноважної стаціонарної конденсації міді в іонно-плазмових розпилювачах, в рамках якої запропоновано новий механізм утворення фази, який зводиться до ієрархічної конденсації. З використанням чисельних методів обробки зображень показано, що під час такої конденсації спочатку утворюються малі кластери зародків фази, потім на їх межах відбувається вторинна конденсація, яка багато разів повторюється. У результаті утворюється характерна сітчаста структура типу тієї, що спостерігається при агрегації, що обмежена дифузією.