Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/5907
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Аналіз напружено-деформованого стану тонкостінних оболонок програмними продуктами САПР |
Authors |
Liaposhchenko, Oleksandr Oleksandrovych
Ніконець, А.В. |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-6657-7051 |
Keywords | |
Type | Conference Papers |
Date of Issue | 2009 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/5907 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | |
Citation | Ніконець, А.В. Аналіз напружено-деформованого стану тонкостінних оболонок програмними продуктами САПР [Текст] / А.В. Ніконець, О.О. Ляпощенко, В.Я. Стороженко // Матеріали науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету технічних систем та енергоефективних технологій : конференція присвячена Дню науки в Україні. - Суми: СумДУ, 2009. - Ч.I. - С. 90-91. |
Abstract |
Тонкостінні посудини та апарати знаходять широке застосування в
хімічній, нафтохімічній і суміжних галузях промисловості. В умовах
експлуатації тонкостінні елементи устаткування працюють під впливом
складного комплексу зовнішніх силових факторів, у тому числі і локальних, до
яких вони досить чутливі, що призводить до виникнення значних напружень у
конструкційному матеріалі, а, як наслідок, і до спонтанного руйнування корпусу
апарата. |
Appears in Collections: |
Наукові видання (ТеСЕТ) |
Views
Australia
1
Canada
1
China
3
Germany
43543
Greece
1
Iran
1
Ireland
791414
Lithuania
1
Netherlands
6
Norway
1
Russia
17
Singapore
1
Turkey
13
Ukraine
2345213
United Kingdom
1187121
United States
13420669
Unknown Country
62
Downloads
China
3
France
1
Germany
318
Ireland
395710
Japan
1
Lithuania
1
Russia
4
Singapore
1
Ukraine
9053268
United Kingdom
1
United States
9053270
Unknown Country
161
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Nikonec_Liaposhchenko.pdf | 207.45 kB | Adobe PDF | 18502739 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.