Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/66263
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | States Density Distribution for Determination of a-Si:H Photoconductivity |
Other Titles |
Розподіл щільності станів для визначення фотопровідності a-Si:H Распределение плотности состояний для определения фотопроводимости a-Si:H |
Authors |
Babychenko, O.Yu.
Pashchenko, A.G. |
ORCID | |
Keywords |
Solar element Amorphous silicon Photo absorption Energy zones Солнечный элемент Аморфный кремний Фотопроводимость Энергетические зоны Сонячний елемент Аморфний кремній Фотопровідність Енергетичні зони |
Type | Article |
Date of Issue | 2017 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/66263 |
Publisher | Sumy State University |
License | |
Citation | Babychenko, O.Yu. States Density Distribution for Determination of a-Si:H Photoconductivity [Текст] / O.Yu. Babychenko, A.G. Pashchenko // Журнал нано- та електронної фізики. - 2017. - Т.9, № 5. - 05044. - DOI: 10.21272/jnep.9(5).05044. |
Abstract |
The paper presents an empirical model of the spectral dependence of the distribution of densities of
electron states, which covers the main features of hydrogenated amorphous silicon. The effect of the degree
of disorder the amorphous structure on the shape and size of tails in electronic states valence band and
conduction band. These tails in the forbidden area affect many of the unique properties of amorphous
semiconductors. The results can be applied for optimization of technology and modeling of many devices
based on amorphous silicon (solar cells, transistors, etc.). В работе приведена эмпирическая модель спектральной зависимости распределения плотностей электронных состояний, которая охватывает основные особенности аморфного кремния. Показано влияние степени разупорядоченности аморфной структуры на форму и величину хвостов электронных состояний валентной зоны и зоны проводимости. Данные хвосты в запрещенной зоне влияют на многие уникальные свойства аморфных полупроводников. Результаты могут быть применены для оптимизации технологии и моделировании работы многих приборов на основе аморфного кремния (солнечных элементов, транзисторов и др.). В роботі наведена емпірична модель спектральної залежності розподілу щільності електронних станів, яка охоплює основні особливості аморфного кремнію. Показано вплив ступеня розупорядкованості аморфної структури на форму і величину хвостів електронних станів валентної зони та зони провідності. Ці хвости в забороненій зоні впливають на багато унікальних властивостей аморфних напівпровідників. Результати можуть бути застосовані для оптимізації технології та моделюванні роботи багатьох приладів на основі аморфного кремнію (сонячних елементів, транзисторів та ін.). |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Germany
1
Ireland
5543
Japan
1
Lithuania
1
Ukraine
206220
United Kingdom
20550
United States
141175
Unknown Country
12
Vietnam
812
Downloads
China
1
Germany
1
India
1
Japan
1
Lithuania
1
Ukraine
76130
United Kingdom
405
United States
141174
Unknown Country
4
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
JNEP_05044.pdf | 376.32 kB | Adobe PDF | 217719 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.