Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/68657
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Механізми струмопереносу в анізотипних гетеропереходах p-NiO/n-SiC |
Other Titles |
Mechanisms of Charge Transport in Anisotype Heterojunctions p-NiO/n-SiC Механизмы токопереноса в анизотипных гетеропереходах p-NiO/n-SiC |
Authors |
Пархоменко, Г.П.
Солован, М.М. Мар’янчук, П.Д. |
ORCID | |
Keywords |
гетероперехід механізми струмопереносу NiO SiC гетеропереход механизмы токопереноса heterojunction charge transport mechanisms |
Type | Article |
Date of Issue | 2018 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/68657 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | |
Citation | Пархоменко, Г.П. Механізми струмопереносу в анізотипних гетеропереходах p-NiO/n-SiC [Текст] / Г.П. Пархоменко, М.М. Солован, П.Д. Мар'янчук // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т. 10, № 2. - 02028. - DOI: 10.21272/jnep.10(2).02028. |
Abstract |
Виготовлені гетероструктури p-NiO/n-SiC методом реактивного магнетронного напилення тонких
плівок оксиду нікелю на підкладки з кристалів n-SiC. Досліджено їх темнові вольтамперні характеристики в широкому діапазоні температур. Встановлено, що основними механізмами струмопереносу
при прямому зміщенні є генераційно-рекомбінаційний і тунелювання. При зворотних зміщеннях основним механізмом струмопереносу є тунелювання через потенціальний бар’єр за участю енергетичного рівня з глибиною залягання 0.47 еВ. Изготовленны гетероструктуры p-NiO/n-SiC методом реактивного магнетронного напыления тонких пленок оксида никеля на подложки из кристаллов n-SiC. Исследованы их темновые вольтамперные характеристики в широком диапазоне температур. Установлено, что основными механизмами токопереноса при прямом смещении являются генерационно-рекомбинационный и туннелирование. При обратных смещениях основным механизмом токопереноса является туннелирование через потенциальный барьер с участием энергетического уровня с глубиной залегания 0.47 эВ. Heterostructure p-NiO/n-SiС was fabrication by reactive magnetron sputtering thin films nickel oxide on substrates with crystal n-SiС. Studied their the dark current-voltage characteristics in a wide temperature range. It was found that the main charge transport mechanisms when a forward bias is generationrecombination and tunneling. In reverse bias, the main mechanism of current transfer is tunneling through a potential barrier involving an energy level with a depth of 0.47 eV. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Belgium
-266104399
China
396212430
France
1
Germany
1
Greece
1
Ireland
529627
Lithuania
1
Netherlands
1
Romania
1
Singapore
1802124561
Sweden
1
Ukraine
18465434
United Kingdom
3159865
United States
-266104401
Unknown Country
6246407
Downloads
China
528283239
Indonesia
1
Lithuania
1
Ukraine
18465434
United Kingdom
1
United States
-266104400
Unknown Country
10
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Parkhomenko_mechanisms.pdf | 535.36 kB | Adobe PDF | 280644286 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.