Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71622
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | The Structural-Phase State and Diffusion Process in Film Structures Based on Co and Ru |
Other Titles |
Структурно-фазовий стан та дифузійні процеси в плівкових структурах на основі Co і Ru |
Authors |
Cheshko, Iryna Volodymyrivna
Lohvynov, Andrii Mykolaiovych Protsenko, Serhii Ivanovych Салтикова, А.І. |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-1585-6712 http://orcid.org/0000-0001-5496-3345 http://orcid.org/0000-0002-8070-1610 |
Keywords |
тонка плівка синтетичний антиферомагнітний шар crystal structure кристалічна структура фазовий склад дифузія вторинна мас-спектрометрія thin film synthetic antiferromagnetic layer crystal structure phase composition diffusion secondary ion mass spectrometry |
Type | Article |
Date of Issue | 2018 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71622 |
Publisher | Sumy State University |
License | |
Citation | The Structural-Phase State and Diffusion Process in Film Structures Based on Co and Ru / I.V. Cheshko, A.M. Lohvynov, A.I. Saltykova, S.I. Protsenko // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т.10, № 6. - 06016. - DOI: 10.21272/jnep.10(6).06016 |
Abstract |
Представлені результати дослідження кристалічної структури, фазового складу та дифузійних процесів у плівкових системах на основі Co та Ru в діапазоні товщин 5÷60 нм до і після відпалювання до температури 600 К. Було показано, що плівкові системи Co / Ru / П та Co / Ru / Со / П складаються з фази ГЩП-Co та ГЩП-Ru. Плівкові системи до складу яких входять шари Ru до і після відпалювання мають нанодисперсну кристалічну структур. Середній розмір кристалітів зразків до відпалювання не перевищує 3÷5 нм, після відпалювання максимальний середній розмір становив 16 нм для зразків з товщиною шарів 60 нм Результати дослідження дифузійних процесів двошарових плівкових систем Co / Ru / П в різних діапазонах товщин показали, що до і після відпалювання зберігається відносна індивідуальність окремих шарів оскільки розраховані значення ефективних коефіцієнтів термічної дифузії для відносно тонких та відносно товстих плівок лежать в межах від 0.1 до 1.1 × 10 – 19 м2 / с. Investigation results of crystalline structure, phase composition and diffusion processes in film systems based on Co and Ru in the thickness range 5÷60 nm before and after annealing to temperature 600 К are represented. It was shown that the film system Co / Ru / S and Co / Ru / Со / S consist of a phase hcp-Co and hcp-Ru. Film systems consisting of Ru layers before and after annealing have a nanodispersed crystalline texture. The average size of crystallites samples before annealing does not exceed 3÷5 nm, after annealing the maximum average size was 16 nm for samples with layer thicknesses 60 nm. The results of the study of the diffusion process of two-layer film systems Co / Ru / in different thickness ranges showed that before and after annealing the relative individuality of separate layers is preserved since the calculated values of thermal diffusion effective coefficients for relatively thin and thick films lie in the range from 0.1 to 1.1 × 10 – 19 m2 / sec. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
China
482948158
Germany
965896315
Greece
1
Ireland
46382
Japan
965896317
Lithuania
1
Netherlands
331
Singapore
1
South Korea
1
Sweden
1
Taiwan
703823
Turkey
1
Ukraine
272206711
United Kingdom
5384714
United States
-1261208342
Unknown Country
806654298
Downloads
Lithuania
1
Singapore
1
South Korea
1
Ukraine
32140278
United Kingdom
1
United States
806654298
Unknown Country
9
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Cheshko_2018_jnep_06016.pdf | 411.85 kB | Adobe PDF | 838794589 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.