Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71682
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Дослідження мікромеханічних властивостей тонких плівок PbTe та PbSe |
Other Titles |
Investigation of Micromechanical Properties of Thin Films of PbTe and PbSe |
Authors |
Тур, Ю.В.
Вірт, І.С. |
ORCID | |
Keywords |
атомно-силова мікроскопія мікротвердість наноідентування тонкі плівки atomic force microscopy microhardness nanoіdentаtion thin films |
Type | Article |
Date of Issue | 2018 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71682 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | |
Citation | Тур, Ю.В. Дослідження мікромеханічних властивостей тонких плівок PbTe та PbSe / Ю.В. Тур, І.С. Вірт // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т.10, № 6. - 06037. - DOI: 10.21272/jnep.10(6).06037 |
Abstract |
Досліджено нанотвердість і модуль пружності тонких плівок PbTe та PbSe на скляних підкладках. За допомогою застосування методу Олівера-Фарра визначено твердість тонких плівок PbTe та PbSe при різних співвідношеннях твердості плівки і підкладки. Встановлено, що коректне вимірювання модуля пружності тонких плівок методом Олівера-Фарра можливо, лише коли плівка і підкладка мають співмірні пружні властивості. Для визначення модуля пружності плівок за допомогою параметра, необхідно, щоб плівка і підкладка мали близькі значення як твердості, так і модуля пружності. The nanocrystal and the elastic modulus of thin films of PbTe and PbSe on glass laminae have been investigated. Using the Oliver-Farr method, the hardness of thin films of PbTe and PbSe was determined at different film and substrate hardness ratios. It is found that the correct measurement of the elastic modulus of thin films by the Oliver-Farr's method is possible only when the film and the substrate have comparable elastic properties. To determine the modulus of elasticity of films with the help of a parameter, it is necessary that the film and substrate have similar values of both hardness and elastic modulus. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
China
1596533
Greece
1
Ireland
1814
Japan
1
Lithuania
1
Singapore
1
Sweden
1
Ukraine
167517
United Kingdom
31187
United States
4254043
Unknown Country
6113286
Downloads
Lithuania
1
Ukraine
167516
United Kingdom
1
United States
4254043
Unknown Country
7
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Tur_2018_jnep_06037.pdf | 363.24 kB | Adobe PDF | 4421568 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.