Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71693
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Оцінка відносної енергії границь зерен в кремнієвих плівках методом зернограничних канавок
Other Titles Estimation of the Relative Energy of Grain Boundaries in Silicon Films by the Grain Boundary Grooves Method
Authors Родіонова, Т.В.
Литвин, П.М.
ORCID
Keywords кремнієві плівки
двогранний кут
відносна зерногранична енергія
атомна силова мікроскопія
silicon films
dihedral angles
relative grain-boundary energy
atomic force microscopy
Type Article
Date of Issue 2018
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/71693
Publisher Сумський державний університет
License
Citation Родіонова, Т.В. Оцінка відносної енергії границь зерен в кремнієвих плівках методом зернограничних канавок / Т.В. Родіонова, П.М. Литвин // Журнал нано- та електронної фізики. - 2018. - Т.10, № 6. - 06040. - DOI: 10.21272/jnep.10(6).06040
Abstract Відносна зерногранична енергія нелегованих та легованих фосфором кремнієвих плівок з рівноосьовою, дендритною та волокнистою структурою, що отримані методом хімічного осадження з газової фази в реакторі зниженого тиску, визначалась методом зернограничних канавок, що утворюються при перетинанні границь зерен вільною поверхнею. Вимірювання двогранних кутів проводилось по даним атомної силової мікроскопії. Показано, що нелеговані плівки з дендритною структурою мають найменшу відносну зернограничну енергію; найбільша відносна енергія спостерігалась у плівках з волокнистою структурою. Висока зерногранична енергія в плівках з волокнистим типом структури може бути обумовлена наявністю в цих плівках великої кількості високоенергетичних двійникових границь високих порядків (Σ3, Σ9, Σ27 і так далі). Легування фосфором призводить до зростання зернограничної енергії в плівках з дендритною структурою, що може бути обумовлено сегрегацією фосфору на границях зерен.
The relative grain-boundary energy of undoped and phosphorus-doped silicon films with equiaxed, dendritic and fibrous structure, prepared by low-pressure chemical vapor deposition, was determined by the method of grain boundary grooves being formed at the intersection of the grain boundary plane with the free surface. The measurements of grain boundary groove dihedral angles were performed by atomic force microscopy. It was shown that undoped films with a fibrous structure possess the lowest relative grain-boundary energy; the largest relative energy was observed in fibrous structure. High grain boundary energy in fibrous type structure can be due to the presence in these films of a large number of high-order twin boundaries (Σ3, Σ9, Σ27, and so on) having high energy. Doping with phosphorus leads to increased grain boundary energy in films with dendritic structure, which may be due to segregation of phosphorus on the boundaries of grains.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

China China
232788
Greece Greece
1
Ireland Ireland
3722
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Singapore Singapore
1839375
Ukraine Ukraine
42718
United Kingdom United Kingdom
21500
United States United States
1495924
Unknown Country Unknown Country
42717

Downloads

Germany Germany
21498
Japan Japan
1
Lithuania Lithuania
1
Singapore Singapore
1
Ukraine Ukraine
1839374
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
1495923
Unknown Country Unknown Country
3678748

Files

File Size Format Downloads
Rodionova_2018_jnep_06040.pdf 458.78 kB Adobe PDF 7035547

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.