Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів

Данильченко, Сергій Миколайович; Кузнецов, Володимир Миколайович; Проценко, Іван Юхимович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів
Authors	Danylchenko, Serhii Mykolaiovych Kuznetsov, Volodymyr Mykolaiovych Protsenko, Ivan Yukhymovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0003-3351-9303
Keywords	кристалічна гратка решітки Браве рентгенівське випромінювання кінематична теорія фазовий аналіз crystalline lattice brave lattice X-ray radiation kinematic theory phase analysis кристаллическая решетка решетки Браве рентгеновское излучение кинематическая теория фазовый анализ
Type	Schoolbook
Date of Issue	2019
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72762
Publisher	Сумський державний університет
License	Copyright not evaluated
Citation	Данильченко, С.М. Рентгенодифракційні методи дослідження кристалічних матеріалів [Електронний ресурс]: навч. посіб. / С.М. Данильченко, В.М. Кузнецов, І.Ю. Проценко. - Електронне вид. каф. Електроніки, загальної та прикладної фізики. - Суми: СумДУ, 2019. - 135 с.
Abstract	У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції. Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних спеціальностей університетів, освітні програми яких пов’язані з вивченням властивостей матеріалів мікроелектроніки.
Appears in Collections:	Навчальні та наукові видання видавництва СумДУ