Позитронно-анігіляційний аналіз наноструктурних функціональних матеріалів

Левченко, Я.М.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/77967

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Позитронно-анігіляційний аналіз наноструктурних функціональних матеріалів
Authors	Левченко, Я.М.
ORCID
Keywords	позитрон positron позитронно-анігіляційна спектроскопія позитронно-аннигиляционная спектроскопия positron-annihilation spectroscopy анігіляція аннигиляция annihilation КРАФ УРАФ ADAP
Type	Bachelous Paper
Speciality	153 - Мікро- та наносистемна техніка
Date of Issue	2020
URI	https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/77967
Publisher	Сумський державний університет
License	Copyright not evaluated
Citation	Левченко, Я.М. Позитронно-анігіляційний аналіз наноструктурних функціональних матеріалів [Текст]: робота за здобуття кваліфікаційного ступеня бакалавра; спец.: 153 – мікро- та наносистемна техніка / Я.М Левченко; наук. керівник А.А. Багдасарян – Суми: СумДУ, 2020. – 51 с.
Abstract	Об’єктом дослідження дипломної роботи є позитронно-анігіляційний аналіз наноструктурних функціональних матеріалів. Обрані теоретичні методи дослідження, засновані на дослідженні позитронної анігіляції, в роботі проведено аналіз методу позитронної анігіляційної спектроскопії, та імплантації в досліджуваний зразок позитронів для подальшої реєстрації характеристик їх анігіляційного гамма-випромінення. Робота викладена на 51 сторінці, містить 10 рисунків, 2 таблиці та список цитованої літератури із 70 джерел.
Appears in Collections:	Кваліфікаційні роботи здобувачів вищої освіти (ЕлІТ)