Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79365
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Synthesis and Characterization of Temperature Controlled SnO2 Nanoparticles by Solid-state Reaction Method |
Other Titles |
Синтез та характеристика температурно-контрольованих наночастинок SnO2, виготовлених методом твердотільної реакції |
Authors |
Garg, Vijay
Sharma, Harsh Rehani, Divya Kumari, Renu Kumar, Vipin Tiwari, Manoj Kumar Sharma, Shailesh Narain Saxena, Manish |
ORCID | |
Keywords |
оксид олова наночастинки температура дифракція тетрагональний tin oxide nanoparticles temperature diffraction tetragonal |
Type | Article |
Date of Issue | 2020 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/79365 |
Publisher | Sumy State University |
License | In Copyright |
Citation | Synthesis and Characterization of Temperature Controlled SnO2 Nanoparticles by Solid-state Reaction Method [Текст] / Vijay Garg, Harsh Sharma, Divya Rehani [et al.] // Журнал нано- та електронної фізики. – 2020. – Т. 12, № 4. – 04004. – DOI: 10.21272/jnep.12(4).04004. |
Abstract |
У роботі наночастинки оксиду олова (SnO2), відпалені при температурах 400, 500 та 600 °C, були підготовлені методом твердотільної реакції. Структурні та оптичні властивості підготовлених наночастинок SnO2 аналізували за допомогою рентгенівського дифрактометра (XRD) та скануючого електронного мікроскопа (SEM). Елементне дослідження було виконано енергетично-дисперсійною рентгенівською спектроскопією (EDAX), інфрачервоною спектроскопією з використанням перетворення Фур'є (FTIR), методами динамічного розсіювання світла (DLS) та поглинання світла в ультрафіолетовому та видимому діапазонах (UV-Vis). Рентгенівська дифрактограма підтверджує чисту тетрагональну структуру рутилу наночастинок SnO2 без будь-якої домішкової фази. SEM зображення відображають утворення нанострижнів при всіх температурах відпалу 400, 500 і 600 °C, тоді як EDAX аналіз підтверджує наявність Sn і O без будь-яких домішок. UV-Vis спектри показують, що ширина забороненої зони підготовлених наночастинок SnO2 спочатку зменшується з 3,44 еВ при температурі 400 °С до 3,03 еВ при 500 °С, а потім збільшується до 3,39 еВ при температурі 600 °С. Спектр FTIR підтверджує наявність зв'язку O–Sn–O разом з одним небажаним піком поглинання. In the present work, nanoparticles of tin oxide (SnO2) annealed at temperatures of 400 °C, 500 °C, and 600 °C were prepared via solid-state reaction method. Structural and optical properties of prepared SnO2 nanoparticles were analyzed by X-ray diffractometer (XRD), scanning electron microscope (SEM), elemental study was performed by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDAX), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR), dynamic light scattering (DLS) and ultraviolet-visible (UV-Vis) absorption characterizing techniques. The X-ray diffraction pattern confirms the pure tetragonal rutile structure of tin oxide nanoparticles without any impurity phase. SEM images depict the formation of nanorods at all annealing temperatures of 400 °C, 500 °C, and 600 °C while EDAX analysis confirms the presence of Sn and O without any impurities. UV-Vis absorption spectra show that the band gap of prepared tin oxide nanoparticles decreases initially from 3.44 eV at 400 °C to 3.03 eV at 500 °C and further increases to 3.39 eV at 600 °C. FTIR spectrum confirms the presence of O–Sn–O bond along with one unwanted absorption peak. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Belgium
1
China
4758612
Finland
1
Germany
12338319
Greece
1
India
328446243
Indonesia
44578885
Iran
-1589585216
Ireland
697057
Italy
1
Japan
1
Lithuania
1
Pakistan
1
Sweden
1
Turkey
1
Ukraine
695282384
United Kingdom
44578881
United States
328446248
Unknown Country
1
Vietnam
455
Downloads
France
135210185
India
328446246
Lithuania
1
Morocco
1
Romania
1
Ukraine
695282384
United Kingdom
-772503171
United States
-1589585219
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Vijay_Garg_jnep_4_2020.pdf | 457.19 kB | Adobe PDF | -1203149571 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.