Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81205
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Taking into Account the Corrections in the Study of the Properties of Substances by the X-ray Method
Other Titles Врахування поправок при дослідженні властивостей речовин рентгенівським методом
Authors Vadets, D.I.
Garashchenko, O.V.
Garashchenko, V.I.
Romaniv, O.Y.
Fedyshyn, Y.I.
Forsyuk, S.L.
ORCID
Keywords середньоквадратичні динамічні зміщення
рентгенівські промені
ангармонізм
характеристична температура
сплави
RMS dynamic displacements
X-rays
anharmonicity
characteristic temperature
alloys
Type Article
Date of Issue 2020
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81205
Publisher Sumy State University
License In Copyright
Citation D.I. Vadets, O.V. Garashchenko, V.I. Garashchenko, et al., J. Nano- Electron. Phys. 12 No 6, 06006 (2020). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.12(6).06019
Abstract Методом високотемпературного рентгенографування сплавів систем Cu-Ni, Fe-Ni, Au-Ag, KCl-KBr на камері оберненого знімання проведено дослідження ступеню впливу поправок на температурне дифузне розсіювання рентгенівських променів та розсіювання дефектами кристалічної гратки. Проведено дослідження концентраційної і температурної залежностей середніх квадратів значень статичних та динамічних зміщень гіпотетичних атомів від їх положень рівноваги у кристалічній гратці. Описана методика розділення значень повних середньоквадратичних динамічних і статичних зміщень атомів. В статті обгрунтований вибір об’єктів і методу дослідження. Наведені математичні співвідношення з визначення температурної залежності рентгенівської характеристичної температури, повного середньоквадратичного динамічного та статичного зміщень гіпотетичних атомів від положення їх рівноваги в гратці. Наведені формули для знаходження значень поправки на температурне дифузне розсіювання рентгенівських променів, формули обчислення значень статичних зміщень через параметр кристалічної гратки твердого розчину та розчинника, а також через значення пружних постійних досліджуваних сплавів. Частина результатів дослідження проілюстрована графічно, а інша – аналітично. Доведена перевага методу Чіпмена-Паскіна з визначення рентгенівської характеристичної температури та перевага оцінки значень статичних зміщень за температурними змінами параметра гратки твердого розчину і розчинника.
The degree of influence of corrections was studied by the method of high-temperature radiography of alloys of Cu-Ni, Fe-Ni, Au-Ag, KCl-KBr systems on the reverse imaging chamber on the diffuse temperature scattering of X-rays and scattering by defects of the crystal lattice. The research of the concentration and temperature dependences of the mean squares of the values of static and dynamic displacements of hypothetical atoms on their equilibrium positions in the crystal lattice was carried out. The method of separating the values of root-mean-square (RMS) dynamic and static displacements of atoms was described. The article is based on the choice of objects and research method. Mathematical relations for determining the temperature dependence of the X-ray characteristic temperature and complete RMS dynamic and static displacements of hypothetical atoms from the position of their equilibrium in the lattice are presented. The formulas for finding the values of the correction for temperature diffuse scattering of X-rays and the formula for calculating the values of static displacements are given through the parameter of the crystal lattice of the solid solution and the solvent, as well as through the values of the elastic constants of the investigated alloys. Some of the results of the investigation are illustrated graphically, and others – analytically. The advantage of the Chipman-Paskin method for determining the X-ray characteristic temperature and the advantage of evaluating the values of static displacements by temperature changes of the lattice parameter of the solid solution and the solvent are proved.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Bulgaria Bulgaria
1
China China
42816959
Finland Finland
1
Germany Germany
608531
Greece Greece
1
Ireland Ireland
17735316
Lithuania Lithuania
1
Singapore Singapore
1
South Korea South Korea
1
Ukraine Ukraine
5263943
United Kingdom United Kingdom
1468120
United States United States
357221511
Unknown Country Unknown Country
1
Vietnam Vietnam
4364

Downloads

Australia Australia
1
China China
153529795
Finland Finland
1
France France
1
Germany Germany
17735316
Hong Kong SAR China Hong Kong SAR China
1
India India
14731
Ireland Ireland
192111
Lithuania Lithuania
1
Pakistan Pakistan
1
South Korea South Korea
1
Ukraine Ukraine
10335777
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
357221512
Unknown Country Unknown Country
425118752
Vietnam Vietnam
1

Files

File Size Format Downloads
Vadets_jnep_6_2020.pdf 467.43 kB Adobe PDF 964148003

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.