Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81205
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Taking into Account the Corrections in the Study of the Properties of Substances by the X-ray Method |
Other Titles |
Врахування поправок при дослідженні властивостей речовин рентгенівським методом |
Authors |
Vadets, D.I.
Garashchenko, O.V. Garashchenko, V.I. Romaniv, O.Y. Fedyshyn, Y.I. Forsyuk, S.L. |
ORCID | |
Keywords |
середньоквадратичні динамічні зміщення рентгенівські промені ангармонізм характеристична температура сплави RMS dynamic displacements X-rays anharmonicity characteristic temperature alloys |
Type | Article |
Date of Issue | 2020 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81205 |
Publisher | Sumy State University |
License | In Copyright |
Citation | D.I. Vadets, O.V. Garashchenko, V.I. Garashchenko, et al., J. Nano- Electron. Phys. 12 No 6, 06006 (2020). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.12(6).06019 |
Abstract |
Методом високотемпературного рентгенографування сплавів систем Cu-Ni, Fe-Ni, Au-Ag, KCl-KBr на
камері оберненого знімання проведено дослідження ступеню впливу поправок на температурне дифузне
розсіювання рентгенівських променів та розсіювання дефектами кристалічної гратки. Проведено дослідження концентраційної і температурної залежностей середніх квадратів значень статичних та динамічних зміщень гіпотетичних атомів від їх положень рівноваги у кристалічній гратці. Описана методика розділення значень повних середньоквадратичних динамічних і статичних зміщень атомів. В статті обгрунтований вибір об’єктів і методу дослідження. Наведені математичні співвідношення з визначення температурної залежності рентгенівської характеристичної температури, повного середньоквадратичного динамічного та статичного зміщень гіпотетичних атомів від положення їх рівноваги в гратці. Наведені формули для знаходження значень поправки на температурне дифузне розсіювання рентгенівських променів, формули обчислення значень статичних зміщень через параметр кристалічної гратки твердого розчину та розчинника, а також через значення пружних постійних досліджуваних сплавів. Частина результатів дослідження проілюстрована графічно, а інша – аналітично. Доведена перевага методу Чіпмена-Паскіна з визначення рентгенівської характеристичної температури та перевага оцінки значень статичних зміщень за температурними змінами параметра гратки твердого розчину і розчинника. The degree of influence of corrections was studied by the method of high-temperature radiography of alloys of Cu-Ni, Fe-Ni, Au-Ag, KCl-KBr systems on the reverse imaging chamber on the diffuse temperature scattering of X-rays and scattering by defects of the crystal lattice. The research of the concentration and temperature dependences of the mean squares of the values of static and dynamic displacements of hypothetical atoms on their equilibrium positions in the crystal lattice was carried out. The method of separating the values of root-mean-square (RMS) dynamic and static displacements of atoms was described. The article is based on the choice of objects and research method. Mathematical relations for determining the temperature dependence of the X-ray characteristic temperature and complete RMS dynamic and static displacements of hypothetical atoms from the position of their equilibrium in the lattice are presented. The formulas for finding the values of the correction for temperature diffuse scattering of X-rays and the formula for calculating the values of static displacements are given through the parameter of the crystal lattice of the solid solution and the solvent, as well as through the values of the elastic constants of the investigated alloys. Some of the results of the investigation are illustrated graphically, and others – analytically. The advantage of the Chipman-Paskin method for determining the X-ray characteristic temperature and the advantage of evaluating the values of static displacements by temperature changes of the lattice parameter of the solid solution and the solvent are proved. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Bulgaria
1
China
42816959
Finland
1
Germany
608531
Greece
1
Ireland
17735316
Lithuania
1
Singapore
1
South Korea
1
Ukraine
5263943
United Kingdom
1468120
United States
357221511
Unknown Country
1
Vietnam
4364
Downloads
Australia
1
China
153529795
Finland
1
France
1
Germany
17735316
Hong Kong SAR China
1
India
14731
Ireland
192111
Lithuania
1
Pakistan
1
South Korea
1
Ukraine
10335777
United Kingdom
1
United States
357221512
Unknown Country
425118752
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Vadets_jnep_6_2020.pdf | 467.43 kB | Adobe PDF | 964148003 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.